With regarding to the detailed inve

With regarding to the detailed investigation on the property of nanostructures, in situ transmission electron microscopy (TEM) observations have been widely performed since the 1970s.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ด้วยเกี่ยวกับการตรวจสอบรายละเอียดในคุณสมบัติของ nanostructures ส่งใน situ microscopy อิเล็กตรอน (ยการ) สังเกตได้อย่างกว้างขวางการตั้งแต่ทศวรรษ 1970

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ด้วยเกี่ยวกับการตรวจสอบรายละเอียดเกี่ยวกับทรัพย์สินของโครงสร้างนาโนในแหล่งกำเนิดกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) สังเกตได้รับการดำเนินการอย่างกว้างขวางตั้งแต่ปี 1970

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ด้วยการตรวจสอบข้อมูลเกี่ยวกับคุณสมบัติของนาโน ในการส่งผ่านอิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( TEM ) วิธีสังเกตได้รับอย่างกว้างขวางดำเนินการตั้งแต่ปี 1970 .