100) and 632.8 nm (20 mW) (helium-n

100) and 632.8 nm (20 mW) (helium-neon laser, NEC ref.
GLG 5410). To avoid temperature elevation and potential
photo-bleaching, ¯uorescence measurements are generally
performed in a pulsed way. Using a mechanical shutter
synchronized with the spectrometer CCD readout, spectra
with exposure times of typically 10±30 ms are collected at a
frequency of 1±10 Hz. To prevent scattered excitation light
perturbing the ¯uorescence spectrum, a long-pass ®lter is
inserted when necessary in front of the detection objective,
cutting out light at the excitation wavelength. Depending on
sample optical density, which in some cases can be very high
(>2), either right-angle or front-face geometry is used
(Lakowicz, 1999). The latter geometry allows dif®culties
associated with strong inner-®ltering to be partially overcome
at the cost of mostly probing the crystal surface. By using two
spectrometer cards in tandem, the two in-line mirror objectives
can record ¯uorescence simultaneously. In this case, if
one spectrum is obtained with the right-angle geometry and
the other with the front-face geometry, a comparison of both
spectra allows an estimation of spectral distortion resulting
from inner ®ltering.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

100) และ 632.8 nm (20 mW) (เลเซอร์ฮีเลียมนีออน NEC refทาง GLG ที่ 5410) เพื่อหลีกเลี่ยงอุณหภูมิสูงและมีศักยภาพฟอกสีภาพ การวัด ¯uorescence มักดำเนินการในวิธีพัลซิ่ง ใช้ชัตเตอร์แบบกลไกตรงกับสเปกโตรมิเตอร์ CCD อ่าน สเปกตรัมเวลาเปิดรับแสงของ 10±30 โดยทั่วไป ms มีการรวบรวมที่มีความถี่ 1±10 Hz เพื่อป้องกันการกระตุ้นกระจายแสงการเชื่อม ¯uorescence สเปกตรัม ยาวพาส® เป็น lterใส่เมื่อจำเป็นด้านหน้าของวัตถุประสงค์การตรวจสอบตัดแสงที่ความยาวคลื่นกระตุ้น ขึ้นอยู่กับตัวอย่างแสงความหนาแน่น ซึ่งในบางกรณีได้สูงมาก(> 2), รูปทรงเรขาคณิต มุมขวา หรือด้านหน้าใช้(Lakowicz, 1999) รูปทรงเรขาคณิตหลังให้ dif ® cultiesเกี่ยวข้องกับ ltering แข็งแกร่งภายใน-®สามารถเอาชนะค่าใช้จ่ายส่วนใหญ่ละเอียดกระจกคริสตัล โดยใช้สองสเปกโตรมิเตอร์บัตรควบคู่ ทั้งสองในสายกระจกวัตถุประสงค์สามารถบันทึก ¯uorescence พร้อมกัน ในกรณีนี้ ถ้าคลื่นหนึ่งจะได้รับกับรูปทรงเรขาคณิตมุมขวา และอื่น ๆ ที่ มีรูปทรงด้านหน้า การเปรียบเทียบทั้งสองสเปกตรัมการประมาณของความผิดเพี้ยนของสเปกตรัมเป็นผลให้จากภายใน® ltering

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

100) และ 632.8 นาโนเมตร (20 MW) เลเซอร์ (ฮีเลียมนีออน NEC โทษ.
GLG 5410) เพื่อหลีกเลี่ยงการยกระดับอุณหภูมิและศักยภาพ
ภาพฟอกวัด¯uorescenceมักจะ
ดำเนินการในทางที่ชีพจร การใช้ชัตเตอร์กล
ตรงกับการอ่านข้อมูลที่ CCD สเปกโตรมิเตอร์, สเปกตรัม
กับเวลาการเปิดรับแสงโดยทั่วไป 10 ± 30 มิลลิวินาทีจะถูกเก็บรวบรวมที่
ความถี่ของ 1 ± 10 เฮิร์ตซ์ เพื่อป้องกันไม่ให้แสงกระตุ้นฝนฟ้าคะนองกระจาย
รบกวนคลื่นความถี่¯uorescenceเป็น®lterยาว-Pass จะ
แทรกเมื่อมีความจำเป็นในด้านหน้าของวัตถุประสงค์การตรวจสอบ,
การตัดออกจากแสงที่ความยาวคลื่นกระตุ้น ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับ
ความหนาแน่นของแสงตัวอย่างซึ่งในบางกรณีสามารถสูงมาก
(> 2) ทั้งขวามุมหรือรูปทรงเรขาคณิตที่หน้าใบหน้าจะใช้
(Lakowicz, 1999) เรขาคณิตหลังช่วยให้dif®culties
ที่เกี่ยวข้องกับการที่แข็งแกร่งภายใน®lteringที่จะเอาชนะบางส่วน
ค่าใช้จ่ายของส่วนใหญ่ละเอียดพื้นผิวผลึก โดยใช้สอง
บัตรสเปกโตรมิเตอร์ควบคู่ทั้งสองในบรรทัดวัตถุประสงค์กระจก
สามารถบันทึก¯uorescenceพร้อมกัน ในกรณีนี้ถ้า
หนึ่งในคลื่นความถี่ที่ได้รับกับรูปทรงเรขาคณิตที่มุมขวาและ
อื่น ๆ ที่มีรูปทรงเรขาคณิตที่หน้าใบหน้าเปรียบเทียบของทั้งสอง
สเปกตรัมช่วยให้การประมาณค่าของการบิดเบือนสเปกตรัมที่เกิด
จาก®lteringภายใน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่างการเก็บรวบรวมแพลงก์ตอนที่ความลึก 10 เมตรรอบโอค็อตสก์ ทาวเวอร์ ตั้งอยู่ 1 กม. จากชายฝั่งของมอมเบ็ทสึ ในภาคตะวันออกเฉียงเหนือ ที่ฮอกไกโด ญี่ปุ่น ( 44 / 20.2 ’ n ’ขาย 143 / E )