During the process of IC test and v

During the process of IC test and verification, it is difficult
for test engineers to generate a valid test pattern named
automatic test pattern (atp) to perform in the Automatic Test
Equipment (ATE),including scan and functional test. Usually,
many IC design simulation tools output Value Change Dump
(VCD) format or Waveform Generation Language (WGL)
format as functional simulation. However, the VCD format is
not a good representation of the required test pattern for test
equipment, because it is "time-based" in nature and is quite difficult to be converted into the "cycle-based" test pattern for
chip testing purpose. The "tailoring" of VCD file is a common
nightmare experience to test engineers. Often, engineers
require some additional tools, for example Tetra MAX, to
generate the required test pattern from previous VCD files.
Tetra MAX is an automatic test pattern generation tool
provided by Synopsys, and one of its function is to generateatp
file from the simulation tools. However, the rent of Tetra MAX
is expensive, especially for college teachers and students.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในการตรวจสอบและการทดสอบ IC มันเป็นเรื่องยากสำหรับวิศวกรทดสอบเพื่อสร้างแบบทดสอบถูกต้องชื่อรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติ (atp) การดำเนินการในการทดสอบอัตโนมัติอุปกรณ์ (ATE), การสแกนและทดสอบการทำงาน มักจะเครื่องมือการจำลองการออกแบบ IC ออกค่าเปลี่ยนถ่ายโอนข้อมูลรูปแบบ (VCD) หรือภาษาสร้างรูปคลื่น (WGL)รูปแบบเป็นการจำลองการทำงาน อย่างไรก็ตาม เป็นรูปแบบวีซีดีไม่ตัวแทนที่ดีของแบบทดสอบต้องการทดสอบอุปกรณ์ เนื่องจากมันเป็น "ตามเวลา" ในธรรมชาติ และเป็นเรื่องยากที่จะถูกแปลงเป็นรูปทดสอบ "ตามรอบ" สำหรับชิทดสอบวัตถุประสงค์ "การ tailoring" ของไฟล์วีซีดีเป็นเรื่องธรรมดาฝันร้ายพบการทดสอบวิศวกร มักจะ วิศวกรต้องใช้เครื่องมือเพิ่มเติมบางอย่าง เช่นสูงสุด Tetra การสร้างแบบทดสอบต้องจากไฟล์ VCD ที่ก่อนหน้านี้เตตร้าสูงสุดเป็นเครื่องมือสร้างรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติโดย Synopsys และฟังก์ชั่นเป็นการ generateatpไฟล์จากเครื่องมือการจำลอง อย่างไรก็ตาม เช่าของ Tetra แม็กซ์แพง โดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับวิทยาลัยครูและนักเรียน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในระหว่างขั้นตอนของการทดสอบ IC และการตรวจสอบก็เป็นเรื่องยาก
สำหรับวิศวกรทดสอบการสร้างรูปแบบที่ถูกต้องทดสอบการตั้งชื่อ
แบบทดสอบอัตโนมัติ (เอทีพี) เพื่อดำเนินการในการทดสอบอัตโนมัติ
อุปกรณ์ (ATE) รวมถึงการสแกนและการทดสอบการทำงาน โดยปกติแล้ว
หลาย IC เครื่องมือออกแบบจำลองการส่งออกการเปลี่ยนแปลงค่าการถ่ายโอนข้อมูล
(VCD) รูปแบบหรือสัญญาณรุ่นภาษา (WGL)
เป็นรูปแบบการจำลองการทำงาน อย่างไรก็ตามรูปแบบ VCD เป็น
ไม่ได้เป็นตัวแทนที่ดีของรูปแบบการทดสอบที่จำเป็นสำหรับการทดสอบ
อุปกรณ์เพราะมันคือ "ตามเวลา" ในธรรมชาติและเป็นเรื่องยากมากที่จะถูกแปลงเป็น "วงจรตาม" รูปแบบการทดสอบสำหรับ
การทดสอบวัตถุประสงค์ชิป "การตัดเย็บ" ของไฟล์ VCD เป็นสามัญ
ประสบการณ์ฝันร้ายในการทดสอบวิศวกร บ่อยครั้งที่วิศวกร
ต้องใช้เครื่องมือเพิ่มเติมบางอย่างเช่น Tetra MAX เพื่อ
สร้างรูปแบบการทดสอบที่จำเป็นจาก VCD ไฟล์ก่อนหน้า.
Tetra MAX เป็นเครื่องมือสร้างแบบทดสอบอัตโนมัติ
ให้บริการโดย Synopsys และเป็นหนึ่งในหน้าที่ของมันคือการ generateatp
ไฟล์จากเครื่องมือการจำลอง . อย่างไรก็ตามเช่า Tetra MAX
มีราคาแพงโดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับครูผู้สอนและนักเรียนวิทยาลัย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในระหว่างกระบวนการทดสอบ IC และตรวจสอบมันเป็นเรื่องยากทดสอบวิศวกรเพื่อสร้างรูปแบบการทดสอบที่ถูกต้องชื่อรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติ ( ATP ) แสดงในการทดสอบอัตโนมัติอุปกรณ์ ( กิน ) , รวมถึงการสแกนและทดสอบการทํางาน โดยปกติการออกแบบเครื่องมือถ่ายโอนเปลี่ยน IC หลายแบบมูลค่าส่งออก( VCD ) หรือรูปแบบเชิงภาษา ( WGL ) รุ่นเป็นรูปแบบจำลองในการทํางาน อย่างไรก็ตาม รูปแบบวีซีดีไม่ต้องทดสอบที่ดีเป็นตัวแทนของรูปแบบการทดสอบอุปกรณ์ เพราะมันคือ " เวลา " ในธรรมชาติ และค่อนข้างยากที่จะถูกแปลงเป็น " วงจรตาม " ทดสอบรูปแบบสำหรับวัตถุประสงค์การทดสอบชิป " ตัด " ของไฟล์ VCD เป็นสามัญประสบการณ์ฝันร้ายที่จะทดสอบวิศวกร มักจะ , วิศวกรต้องใช้เครื่องมือเพิ่มเติมบางอย่าง เช่น เตตร้า แม็กซ์ ,สร้างรูปแบบจากไฟล์ VCD ต้องทดสอบก่อนสี่แม็ก เป็นเครื่องมือสร้างรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติโดย SYNOPSYS และหนึ่งในหน้าที่คือ generateatpไฟล์จากเครื่องมือจำลอง แต่ค่าเช่าของ Tetra แม็กซ์มีราคาแพงโดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับครูโรงเรียนและนักเรียน