TEM analysis in high magnification

TEM analysis in high magnification was performed to evaluate the uncoated SPION, the PMMA-coated SPIONs and the dispersion of the PEG bis(amine)-grafted nanoparticles.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ยการวิเคราะห์กำลังขยายสูงดำเนินการประเมิน SPION เคลือบผิว SPIONs เคลือบ PMMA และการกระจายตัวของหนี้ PEG (มีน) -ทาบเก็บกัก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์แบบขยายสูงในการประเมิน spion เคลือบผิว , เคลือบ spions PMMA และการกระจายตัวของ PEG ทวิ ( amine ) - โดยอนุภาค