Additionally, the changes of the gr

Additionally, the changes of the growing thickness when varying the feature position on the wafer can be determined according to:

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นอกจากนี้ การเปลี่ยนแปลงของความหนาเพิ่มขึ้นเมื่อสามารถกำหนดคุณลักษณะตำแหน่งบนแผ่นเวเฟอร์แตกต่างกันตาม:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นอกจากนี้การเปลี่ยนแปลงของความหนาของการเจริญเติบโตที่แตกต่างกันเมื่อตำแหน่งคุณสมบัติของแผ่นเวเฟอร์ที่สามารถกำหนดตาม:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นอกจากนี้ การเปลี่ยนแปลงของการเปลี่ยนแปลงความหนาเมื่อคุณลักษณะตำแหน่งบนเวเฟอร์ได้ตาม :