Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) images were obtained from a
Zesiss Supra 40 scanning electron microscope at an acceleration voltage of 5 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) สแกนภาพได้รับจากการZesiss Supra 40 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดที่การเร่งแรงดันไฟฟ้า 5 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ภาพที่ได้รับจาก
Zesiss Supra 40 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่แรงดันการเร่งความเร็วของ 5 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภาพที่ได้จากzesiss Supra 40 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่เร่งแรงดัน 5 KV .