2.10. Characterization of apples2.1

2.10. Characterization of apples
2.10.1. Microstructure observations
Both surface microstructure and cross-section of apple peels coated
with pullulan coating with and without SBE were examined under
the SEM (type FEI, Quanta 200, Jeol Ltd., Japan). Observations and
micrographs were made in Low Vacuum mode (LV mode) using an
LFD detector, at an accelerating voltage of 30 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.10 การจำแนกของแอปเปิ้ล2.10.1 การสังเกตที่ต่อโครงสร้างจุลภาคต่อโครงสร้างจุลภาคที่ผิวและระหว่างส่วนของแอปเปิ้ล peels เคลือบด้วยการเคลือบ pullulan ที่มี และไม่ มี SBE ได้ตรวจสอบภายใต้SEM (ชนิดเฟย Quanta 200, Jeol จำกัด ญี่ปุ่น) สังเกต และmicrographs การทำสุญญากาศต่ำโหมด (โหมด LV) โดยใช้การเครื่องตรวจจับ LFD ที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 30 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.10 คุณสมบัติของแอปเปิ้ล
2.10.1 สังเกตจุลภาค
ทั้งจุลภาคพื้นผิวและข้ามส่วนของเปลือกแอปเปิ้ลเคลือบ
ด้วยการเคลือบ pullulan ที่มีและไม่มี SBE ถูกตรวจสอบภายใต้
SEM (ชนิด FEI, ควอนตั้ม 200, Jeol จำกัด , ญี่ปุ่น) การสังเกตและ
กล้องจุลทรรศน์ได้ทำในโหมดสูญญากาศต่ำ (โหมด LV) โดยใช้
เครื่องตรวจจับ LFD ที่แรงดันไฟฟ้าเร่งที่ 30 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.10 . คุณสมบัติของแอปเปิ้ล
2.10.1 . โครงสร้างจุลภาคสังเกต
ทั้งพื้นผิวโครงสร้างจุลภาคและภาพตัดขวางของเปลือกแอปเปิ้ลเคลือบ
กับเคลือบที่มีและไม่มี sbe พูลลูแลน 1 ปีภายใต้
SEM ( ประเภท Fei , Quanta 200 , จอล ( ญี่ปุ่น ) การสังเกตและ
micrographs ถูกทำในโหมดสูญญากาศต่ำ ( โหมด LV ) โดยใช้
lfd เครื่องที่เร่งแรงดัน 30 kV .