Scanning electron microscopycouplin

Scanning electron microscopy
coupling with an energy dispersive X-ray spectroscopy (SEM-EDX)
is a non-destructive detection method which can provide
combined information of both morphological structure and
elemental compositions

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอนคลัปกับการพลังงาน dispersive เอกซเรย์ก (เรื่อง)วิธีตรวจสอบแบบไม่ทำลายซึ่งสามารถให้รวมข้อมูลของทั้งสองโครงสร้างสัณฐาน และองค์ธาตุ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดการมีเพศสัมพันธ์ที่มีสเปคโทรพลังงานกระจาย X-ray (SEM-EDX) เป็นวิธีการตรวจสอบแบบไม่ทำลายที่สามารถให้ข้อมูลรวมทั้งโครงสร้างทางสัณฐานวิทยาและองค์ประกอบธาตุ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน
ด้วยพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปีรังสีเอกซ์ ( sem-edx )
เป็นวิธีการตรวจสอบแบบไม่ทำลายซึ่งสามารถให้ข้อมูลรวมทั้งโครงสร้าง

องค์ประกอบทางธาตุ