The laterally averaged graphene thi

The laterally averaged graphene thickness determined by LEEM is in perfect agreement with the average layer thickness obtained by X-ray photoelectron spectroscopy.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความหนาแบบแนวนอนเฉลี่ย graphene กำหนด โดย LEEM อยู่ในข้อตกลงสมบูรณ์แบบ มีความหนาเฉลี่ยชั้นที่ได้รับ โดยการเอ็กซ์เรย์ photoelectron ก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความหนาเฉลี่ยขวาง graphene กำหนดโดย LEEM อยู่ในข้อตกลงที่สมบูรณ์แบบด้วยความหนาของชั้นเฉลี่ยที่ได้จากการเอ็กซ์เรย์สเปคโทรโฟโต

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยเฉลี่ยความหนา leem graphene ด้านข้างโดยกำหนดเป็นข้อตกลงสมบูรณ์แบบกับชั้นความหนาเฉลี่ยได้โดยเครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy .