The resulting curves were analyzed

The resulting curves were analyzed and interpreted qualitatively by inspection and quantitatively by “partial curve matching” [8] which required matching small segments of the field curves with an appropriate two-layer model resistivity-depth variation curve and its corresponding auxiliary curve to obtain the apparent resistivity and thickness of the first layer as well as the assumed resistivities and depth replacements of the other layers and the respective reflection coefficient „k” and Depth Index (DI) between two successive layers [9].
The results from the modeling were finally iterated to the lowest Root Mean Square (RMS)
percentage error using computer software, “the Win RESIST version 1.0” based on [10] models to determine the
smoothed resistivities and thicknesses of other layers (Figs: 3-6) and (Table 1). From these, the subsurface lithology
is obtained and the geoelectric section of the study sites was drawn.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เส้นโค้งได้ถูกวิเคราะห์ และตีความ qualitatively โดยการตรวจสอบ และ quantitatively "โค้งบางส่วนตรงกัน" [8] ซึ่งจำเป็นต้องจับคู่เล็กเซ็กเมนต์ของฟิลด์เส้นโค้งเป็นแบบสองชั้นที่เหมาะสมความลึกความต้านทานเปลี่ยนแปลงโค้งและความโค้งเสริมสอดรับความต้านทานที่ชัดเจนและความหนาของชั้นแรกเป็น resistivities สันนิษฐาน และแทนความลึกของชั้นอื่น ๆ และสัมประสิทธิ์การสะท้อนที่เกี่ยวข้อง "k" และความลึกของดัชนี (DI) ระหว่างสองชั้นต่อเนื่อง [9]ผลลัพธ์จากการสร้างโมเดลถูกสุดทวิภาควนซ้ำไปต่ำรากค่าเฉลี่ยกำลังสอง (RMS)เปอร์เซ็นต์ข้อผิดพลาดในการใช้ซอฟต์แวร์คอมพิวเตอร์, "ชนะการต่อต้านรุ่น 1.0" ตามรูปแบบ [10] การตรวจสอบโค้งความหนาของชั้นอื่น ๆ และ resistivities (มะเดื่อ: 3-6) และ (ตารางที่ 1) จากนี้ subsurface lithologyได้รับ และส่วน geoelectric ของอเมริกาศึกษามา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เส้นโค้งที่เกิดขึ้นได้รับการวิเคราะห์และตีความในเชิงคุณภาพโดยการตรวจสอบและเชิงปริมาณโดย "การจับคู่โค้งบางส่วน" [8] ซึ่งต้องตรงกับกลุ่มเล็ก ๆ ของเส้นโค้งสนามที่เหมาะสมโค้งรูปแบบความต้านทานเชิงลึกรูปแบบสองชั้นและเส้นโค้งเสริมที่สอดคล้องกันที่จะได้รับ ความต้านทานที่เห็นได้ชัดและความหนาของชั้นแรกเช่นเดียวกับความต้านทานสันนิษฐานและเปลี่ยนความลึกของชั้นอื่น ๆ และค่าสัมประสิทธิ์การสะท้อนนั้น "k" และดัชนีความลึก (DI) ระหว่างสองชั้นต่อเนื่อง [9].
ผลจากการสร้างแบบจำลองที่ถูกที่สุด ซ้ำต่ำสุด Root Mean Square (RMS)
ข้อผิดพลาดร้อยละโดยใช้ซอฟแวร์คอมพิวเตอร์ "วิน RESIST รุ่น 1.0" บนพื้นฐานของ [10]
รุ่นเพื่อตรวจสอบความต้านทานเรียบและความหนาของชั้นอื่นๆ (มะเดื่อ: 3-6) และ (ตารางที่ 1 ) จากนี้ lithology
ดินจะได้รับและส่วนgeoelectric เว็บไซต์การศึกษาถูกดึง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลวิเคราะห์และตีความเส้นโค้งเชิงคุณภาพ โดยการตรวจสอบและพิจารณาโดยบางส่วนโค้งคู่ " [ 8 ] ซึ่งต้องตรงกับส่วนเล็ก ๆของเส้นโค้งสนามที่เหมาะสมแบบสองชั้นรูปแบบเส้นโค้งและเส้นโค้งเสริมความต้านทานความลึกที่สอดคล้องกันเพื่อให้ได้ความต้านทานชัดเจนและความหนาของชั้นแรกเป็น สันนิษฐานและความลึกของชั้นอื่น ๆแทน และตามค่าสัมประสิทธิ์การสะท้อนกลับ„ K " และความลึก Index ( DI ) ระหว่างสองชั้นต่อเนื่อง [ 9 ]
ผลจากแบบจำลองที่ได้ซ้ำกับรากกำลังสองเฉลี่ยต่ำสุด ( RMS )
ข้อผิดพลาดเปอร์เซ็นต์โดยใช้คอมพิวเตอร์ซอฟต์แวร์ " ชนะต่อต้านรุ่น 1.0 " ตาม [ 10 ] นางแบบหา
เรียบและความหนาของชั้นอื่น ๆ resistivities ( มะเดื่อ : 3-6 ) ( ตารางที่ 1 ) จาก เหล่านี้ ระดับการศึกษาทางธรณีวิทยา
ได้และส่วน geoelectric การศึกษาเว็บไซต์
วาด