We investigated the properties of t

We investigated the properties of the films, which were prepared at various temperatures, by lifetime measurements,capacitance–voltage (C–V) measurements, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เราตรวจสอบคุณสมบัติของฟิล์ม ซึ่งได้เตรียมไว้ที่อุณหภูมิต่าง ๆ โดยวัดอายุการใช้งาน การวัดค่าความจุ – แรงดัน (C – V) เอกซเรย์ photoelectron ก (XPS), และฟูรีเยแปลงกอินฟราเรด (FTIR)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เราตรวจสอบคุณสมบัติของภาพยนตร์ซึ่งได้จัดทำที่อุณหภูมิต่างๆโดยการวัดอายุการใช้งานความจุแรงดัน (C-V) วัดสเปคโทรโฟโตเอ็กซ์เรย์ (XPS) และฟูเรียร์อินฟราเรด (FTIR)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เราศึกษาสมบัติของฟิล์มซึ่งได้เตรียมที่อุณหภูมิต่าง ๆ โดยการวัดอายุการใช้งาน ความจุ–แรงดัน ( C ) V ) การวัดเครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) และฟูเรียร์ทรานฟอร์มอินฟราเรดสเปกโทรสโกปี ( FTIR )