Morphology and particle size of dif

Morphology and particle size of different samples were
analyzed using a Jeol JSM 5200 Scanning Electron Microscope.
The FT-IR spectra of the Cu-complex and its
immobilized silica samples were recorded on a Perkin-Elmer
FT-IR 783 and Shimadzu FT-IR-8400S spectrophotometer
using KBr pellets.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาและอนุภาคขนาดแตกต่างกันอย่างมีวิเคราะห์โดยใช้ Jeol JSM 5200 การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแรมสเป็คตรา FT-IR ของ Cu ซับซ้อนและตัวอย่างเอนไซม์ซิลิก้าถูกบันทึกไว้ในแบบเพอร์เอลเมอ783 FT-IR และ Shimadzu FT-IR-8400S เครื่องทดสอบกรดด่างใช้ขี้ KBr

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานวิทยาและอนุภาคขนาดของกลุ่มตัวอย่างที่แตกต่างกันได้รับการ
วิเคราะห์โดยใช้ Jeol JSM 5200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
สเปกตรัม FT-IR ของ Cu ซับซ้อนและ
ตัวอย่างซิลิกาตรึงถูกบันทึกไว้ในเพอร์กินเอลเมอ
FT-IR 783 และ Shimadzu FT-IR- Spectrophotometer 8400S
ใช้เม็ด KBr

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาและขนาดอนุภาคที่แตกต่างกันถูก
วิเคราะห์โดยใช้จอล JSM 5200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน อินฟราเรดสเปกตรัมของจุฬาฯ

( ตัวอย่างที่ซับซ้อนและของซิลิกาที่ถูกบันทึกไว้ในเพอร์กินเอลเมอร์
-
โดยใช้ Spectrophotometer และ Shimadzu ft-ir-8400s าเม็ด