The root mean square (RMS) roughnes

The root mean square (RMS) roughness of ZnO
seed layers are analyzed by AFM data and are (a) 11.8 nm, (b)
26.8 nm, (c) 4.48 nm, (d) 13.5 nm, (e) 17.3 nm, respectively

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความหยาบรากค่าเฉลี่ยกำลังสอง (RMS) ของ ZnOวิเคราะห์ข้อมูล AFM เมล็ดชั้น และเป็น (ก) 11.8 nm (b)26.8 nm, nm (c) 4.48, nm (d) 13.5, nm (e) 17.3 ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รากหมายถึงตาราง (RMS) ความหยาบกร้านของซิงค์ออกไซด์
ชั้นเมล็ดโดยมีการวิเคราะห์ข้อมูลและ AFM (ก) 11.8 นาโนเมตร (ข)
26.8 นาโนเมตร (ค) 4.48 นาโนเมตร (ง) 13.5 นาโนเมตร (จ) 17.3 นาโนเมตรตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รากหมายความว่าสี่เหลี่ยมจัตุรัส ( RMS ) ผิวของชั้นเมล็ดพันธุ์ ZnO
วิเคราะห์ตามข้อมูลและ ( AFM ) 11.8 nm ( B )
26.8 nm ( C ) 4.48 nm ( D ) 13.5 nm ( E )
17.3 nm ตามลำดับ