The fairly recent availability of c

The fairly recent availability of commercial focused ion beam (FIB) microscopes has
led to rapid development of their applications for materials science. FIB instruments
have both imaging and micromachining capabilities at the nanometer–micrometer scale;
thus, a broad range of fundamental studies and technological applications have been
enhanced or made possible with FIB technology. This introductory article covers the
basic FIB instrument and the fundamentals of ion–solid interactions that lead to the
many unique FIB capabilities as well as some of the unwanted artifacts associated with
FIB instruments. The four topical articles following this introduction give overviews of
specific applications of the FIB in materials science, focusing on its particular strengths
as a tool for characterization and transmission electron microscopy sample preparation,
as well as its potential for ion beam fabrication and prototyping.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พร้อมใช้งานค่อนข้างล่าสุดของพาณิชย์โฟกัสไอออนบีม (ตอแหล) กล้องจุลทรรศน์ได้นำไปสู่การพัฒนาอย่างรวดเร็วของโปรแกรมประยุกต์สำหรับวัสดุศาสตร์ เครื่องมือตอแหลมีทั้งภาพและความสามารถในการ micromachining ขนาด nanometer – ไมโครมิเตอร์ดังนั้น ได้รับการศึกษาขั้นพื้นฐานและการประยุกต์ใช้เทคโนโลยีที่หลากหลายเพิ่ม หรือทำได้ ด้วยเทคโนโลยีตอแหล บทเกริ่นนำนี้ครอบคลุมการเครื่องมือพื้นฐานตอแหลและพื้นฐานของการโต้ตอบของไอออนแข็งที่นำไปสู่การความตอแหลเฉพาะหลายตลอดจนบางส่วนของสิ่งประดิษฐ์ที่ไม่พึงประสงค์ที่เกี่ยวข้องกับเครื่องมือตอแหล บทความเฉพาะ 4 ขั้นนี้แนะนำให้ภาพรวมของตอแหลในวัสดุศาสตร์ เน้นจุดแข็งเฉพาะตัวเฉพาะงานเป็นเครื่องมือในการจำแนกและส่งอิเล็กตรอน microscopy เตรียมสารตัวอย่างและศักยภาพการผลิตคานไอออนและต้นแบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความพร้อมล่าสุดอย่างเป็นธรรมในเชิงพาณิชย์ของลำแสงไอออนเน้น (FIB) กล้องจุลทรรศน์ได้
นำไปสู่การพัฒนาอย่างรวดเร็วของการใช้งานของพวกเขาสำหรับวัสดุศาสตร์ เครื่องมือ FIB
มีทั้งการถ่ายภาพและความสามารถในไมโครในระดับนาโนเมตรไมโครเมตร;
จึงมีความหลากหลายของการศึกษาขั้นพื้นฐานและการประยุกต์ใช้เทคโนโลยีที่ได้รับ
การปรับปรุงหรือทำไปด้วยเทคโนโลยี FIB บทความนี้เบื้องต้นครอบคลุม
ตราสาร FIB ขั้นพื้นฐานและปัจจัยพื้นฐานของการมีปฏิสัมพันธ์ไอออนแข็งที่นำไปสู่
​​ความสามารถในการ FIB ไม่ซ้ำกันจำนวนมากเช่นกันเป็นบางส่วนของสิ่งประดิษฐ์ที่ไม่พึงประสงค์ที่เกี่ยวข้องกับ
ตราสาร FIB สี่บทความต่อไปนี้เฉพาะที่แนะนำนี้ให้ภาพรวมของ
การใช้งานที่เฉพาะเจาะจงของ FIB ในวัสดุศาสตร์โดยมุ่งเน้นที่จุดแข็งโดยเฉพาะอย่างยิ่งมัน
เป็นเครื่องมือในการลักษณะและการส่งอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์เตรียมตัวอย่าง,
เช่นเดียวกับการที่มีศักยภาพสำหรับการผลิตลำแสงไอออนและการสร้างต้นแบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่ล่าสุดค่อนข้างว่างเพื่อโฟกัสลำแสงไอออน ( FIB ) กล้องจุลทรรศน์ได้นำไปสู่การพัฒนาอย่างรวดเร็วของ
ใบสมัครของพวกเขาสำหรับวัสดุศาสตร์ เครื่องมือพราง
มีทั้งภาพและ micromachining ความสามารถในระดับนาโนเมตรและไมโครเมตร ;
ดังนั้น ช่วงกว้างของการศึกษาพื้นฐานและการประยุกต์ใช้งานเทคโนโลยีได้เพิ่มขึ้นได้ด้วย
หรือ FIB )บทความนี้ครอบคลุมพื้นฐานเบื้องต้น
พรางเครื่องดนตรีและพื้นฐานของไอออนและของแข็งปฏิสัมพันธ์นำไปสู่
ความสามารถเฉพาะตอแหลมากเป็นบางส่วนของสิ่งประดิษฐ์ที่ไม่พึงประสงค์ที่เกี่ยวข้องกับ
เครื่องมือโกหก 4 หัวข้อบทความเบื้องต้นต่อไปนี้ให้ภาพรวมของการใช้งานที่เฉพาะเจาะจงของโกหก

ในวัสดุศาสตร์ เน้นจุดแข็งของมันโดยเฉพาะเป็นเครื่องมือสำหรับการตรวจสอบและส่งข้อมูลตัวอย่างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด
รวมทั้งศักยภาพในการผลิตไอออนบีม และสร้างต้นแบบ .