PIXE technique, particle beam hits

PIXE technique, particle beam hits a sample and characteristic x-rays are created from the sample elements. These x-rays are measured with detectors and from the recorder spectra elemental composition of the sample can be analysed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เทคนิค PIXE ตัวอย่างฮิตลำอนุภาค และรังสีเอกซ์ลักษณะสร้างขึ้นจากองค์ประกอบตัวอย่าง ไอออนเหล่านี้วัด ด้วยเครื่องตรวจ และจากบันทึก สเปกตรัมธาตุองค์ประกอบของตัวอย่างสามารถวิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เทคนิค pixe ลำแสงอนุภาคฮิตตัวอย่างและลักษณะรังสีเอกซ์ที่ถูกสร้างขึ้นจากองค์ประกอบตัวอย่าง เหล่านี้ x-ray จะถูกวัดด้วยเครื่องตรวจจับและบันทึกสเปกตรัมธาตุองค์ประกอบของกลุ่มตัวอย่างสามารถวิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

pixe เทคนิคลำแสงอนุภาคฮิตตัวอย่างและลักษณะรังสีเอกซ์จะถูกสร้างขึ้นจากตัวอย่างองค์ประกอบ เหล่านี้จะถูกวัดด้วยเครื่องตรวจจับรังสีเอกซ์จากเครื่องบันทึกสเปกตรัมของธาตุองค์ประกอบของตัวอย่าง สามารถวิเคราะห์