The probing depths of EDX and XPSwe

The probing depths of EDX and XPS
were shorter than 2 μm and 10 nm, respectively.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความลึก probing เห็น EDX และ XPSได้สั้นกว่า 2 μ m และ 10 nm ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ระดับความลึกละเอียดของ EDX และ XPS
ก็สั้นกว่า 2 ไมครอนและ 10 นาโนเมตรตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดความลึกของการเจาะ และ XPSสั้นกว่า 2 μเมตรและ 10 นาโนเมตร