An AFM topography scan in an area o

An AFM topography scan in an area of 10*10 mm^2 revealed that the RMS roughness were 15 and 34 nm, and the actual surface areas were 101.8 and 100.3 mm^2 for the samples annealed at 750 C and 1450 C, respectively.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

AFM ถือสแกนในพื้นที่ 10 * 10 mm ^ 2 เปิดเผยว่า ความหยาบของ RMS ได้ 15 และ 34 nm และพื้นที่ผิวจริงถูก 101.8 และ 100.3 มิลลิเมตร ^ 2 ตัวอย่าง annealed ที่ 750 C และ 1450 C ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภูมิประเทศ AFM สแกนในพื้นที่ของ 10 * 10 มม ^ 2 เปิดเผยว่าความหยาบกร้านอาร์ 15 และ 34 นาโนเมตรและมีพื้นผิวที่เกิดขึ้นจริงในพื้นที่ที่ได้ 101.8 และ 100.3 มม ^ 2 ตัวอย่างอบที่ 750 องศาเซลเซียสและ 1450 องศาเซลเซียส ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภูมิประเทศเป็น AFM สแกนในพื้นที่ 10  * 10 mm
2 พบว่า ค่าความขรุขระของ 15 และ 34 nm และพื้นที่ผิวที่เกิดขึ้นจริงและมี 101.8 100.3 mm
2 ตัวอย่างอบที่ 750  C และ  1450 องศาเซลเซียส ตามลำดับ