The solid products were characteriz

The solid products were characterized by Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR), scanning electron microscopy (SEM), and X-ray diffractrometry (XRD).
FTIR: The infrared spectra were measured on Bruker model Tensor 27 with KBr preparation. The spectra were collected over the range of wavenumber 4,000-400 cm–1 with 16 scanning and resolution at 4 cm–1
SEM: The morphology and aggregate of particles were examined by JEOL model JEM-6335.
XRD: The structures of samples were identified by using XRD pattern on Siemems model D-500.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผลิตภัณฑ์เป็นของแข็งมีลักษณะเป็นฟูรีเยแปลงอินฟราเรดก (FTIR), การสแกน อิเล็กตรอน microscopy (SEM) และเอ็กซ์เรย์ diffractrometry (XRD)FTIR: แรมสเป็คตราอินฟราเรดถูกวัดในรูป Bruker Tensor 27 กับ KBr เตรียม แรมสเป็คตราถูกเก็บรวบรวมช่วง wavenumber 4000-400 เซนติเมตร – 1 กับ 16 การสแกนและความละเอียดที่ 4 ซม.-1SEM: สัณฐานวิทยาและรวมของอนุภาคถูกตรวจสอบ โดย JEOL รุ่น JEM-6335XRD: โครงสร้างของตัวอย่างที่ระบุ โดยใช้รูปแบบ XRD ในรุ่น Siemems D-500

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผลิตภัณฑ์ที่เป็นของแข็งมีลักษณะโดยแปลงฟูริเยอินฟราเรด (FTIR), สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และ diffractrometry X-ray (XRD).
FTIR: สเปกตรัมอินฟราเรดถูกวัดในรูปแบบ Bruker Tensor 27 กับการเตรียม KBr สเปกตรัมถูกเก็บรวบรวมในช่วง wavenumber 4,000-400 เซนติเมตร-1 กับ 16 และความละเอียดในการสแกนที่ 4 เซนติเมตร-1
SEM: สัณฐานวิทยาและรวมของอนุภาคมีการตรวจสอบโดย JEOL แบบ JEM-6335.
XRD: โครงสร้างของตัวอย่างที่ระบุ โดยใช้รูปแบบ XRD ใน Siemems รุ่น D-500

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลิตภัณฑ์ที่เป็นของแข็งมีลักษณะฟูเรียร์ทรานฟอร์มอินฟราเรดสเปกโทรสโกปี ( FTIR ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และเอกซเรย์ diffractrometry ( XRD )
( : อินฟราเรดสเปกตรัมถูกวัดในบรุคเกอร์แบบเมตริกซ์ 27 กับการเตรียมา . สเปกตรัมได้ถูกเก็บรวบรวมกว่าช่วง wavenumber 4000-400 ซม. และ 1 กับ 16 สแกนและมติที่ 4 ซม. ( 1
SEM :สัณฐานวิทยาและการรวมของอนุภาคที่ถูกตรวจสอบโดยรุ่น Jeol jem-6335 .
วิเคราะห์โครงสร้างของตัวอย่างที่ระบุ โดยใช้รังสีเอ็กซ์แบบลวดลายบน siemems
d-500 .