Phase analysis of the colored sampl

Phase analysis of the colored samples was performed by Xray powder diffraction using a Ni-filtered Cu Ka radiation with a powder X-ray diffractometer (XRD) (Philips X’pert Pro). Data were collected by a step-scanning from 10 to 908 2u. Phase identification was determined from these data. Particle morphological analysis of the powders was performed by means of a scanning electron microscope (SEM) (JEOL, JSM-5600LV). The high-resolution electron microscopy (HREM) was taken using transmission electron microscope (TEM) TECNAI 30G2 S-TWIN (FEI, The Netherlands) and micro chemical analysis of the samples were analyzed using energy dispersive spectrophotometer (EDS) attached with TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ขั้นตอนการวิเคราะห์ตัวอย่างสีที่ดำเนินการ โดย Xray ผงการเลี้ยวเบนรังสีคากรอง Ni Cu ด้วย diffractometer เอ็กซ์เรย์แบบผง (XRD) (ฟิลิปส์ X'pert Pro) ข้อมูลถูกรวบรวม โดยขั้นตอนการสแกนจาก 10 ไปคลุม 2u 908 ระบุขั้นตอนที่ถูกกำหนดจากข้อมูลเหล่านี้ วิเคราะห์สัณฐานของอนุภาคของผงที่ทำโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM) (JEOL, JSM-5600LV) Microscopy อิเล็กตรอนมีความละเอียดสูง (HREM) ถูกนำมาใช้ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ) TECNAI 2 30G S คู่ (หุย ประเทศเนเธอร์แลนด์) และไมโครวิเคราะห์ทางเคมีของตัวอย่างได้วิเคราะห์โดยใช้พลังงาน dispersive เครื่องทดสอบกรดด่าง (EDS) แนบกับยการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ขั้นตอนของการวิเคราะห์ตัวอย่างสีได้ดำเนินการโดยการเลี้ยวเบน Xray ผงใช้ Ni-Cu กรองรังสีกากับ diffractometer ผง X-เรย์ (XRD) (ฟิลิปส์ X'pert Pro) เก็บรวบรวมข้อมูลโดยขั้นตอนการสแกน 10-908 2u การระบุขั้นตอนที่ถูกกำหนดจากข้อมูลเหล่านี้ การวิเคราะห์ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาคของผงที่ได้ดำเนินการโดยวิธีการของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (JEOL, JSM-5600LV) ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HREM) ถูกนำมาใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์ (TEM) TECNAI 30G2 S-TWIN (FEI, เนเธอร์แลนด์) และการวิเคราะห์ทางเคมีของตัวอย่างขนาดเล็กได้รับการวิเคราะห์โดยใช้พลังงาน spectrophotometer กระจาย (EDS) ที่แนบมากับ TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ขั้นตอนการวิเคราะห์ของสีตัวอย่างโดยใช้การเลี้ยวเบนผง Xray ใช้ผมกรองรังสีกับผงทองแดงกะเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( XRD ) ( Philips x'pert Pro ) เก็บรวบรวมข้อมูลโดยขั้นตอนการสแกนจาก 10 ถึง 908 2U . รหัสเฟส ตัดสินใจจากข้อมูลเหล่านี้การวิเคราะห์สัณฐานของอนุภาคของผงโดยใช้วิธีการของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( Jeol jsm-5600lv , ) ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( hrem ) คือที่ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM ) tecnai 30g2 s-twin ( เฟย เนเธอร์แลนด์ ) และการวิเคราะห์ทางเคมีควอนตัมของพลังงานโดยใช้เครื่องวิเคราะห์การกระจาย ( EDS ) แบบที่แนบมาด้วย