X-rays strike the sample and promot

X-rays strike the sample and promote elemental fluorescence.
Some Si fluorescence at the surface of the detector escapes, and is not collected by the detector.
The result is a peak that appears in spectrum, at: Element keV -Si keV (1.74 keV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รังสีเอกซ์ตีตัวอย่าง และส่งเสริมธาตุ fluorescenceFluorescence บางสีที่พื้นผิวของเครื่องตรวจจับหนี และไม่มีการเก็บรวบรวม โดยเครื่องตรวจจับผลที่ได้คือ สูงสุดที่ปรากฏในสเปกตรัม ที่: keV องค์ประกอบ-ศรี keV (1.74 keV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รังสีเอกซ์ตีตัวอย่างและส่งเสริมการเรืองแสงธาตุ.
บางศรีเรืองแสงที่พื้นผิวของหนีตรวจจับและไม่ได้เก็บรวบรวมโดยเครื่องตรวจจับ.
ผลที่ได้คือยอดเขาที่ปรากฏในคลื่นความถี่ที่: ธาตุ -Si เคฟเคฟ (1.74 เคฟ )

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่าง และส่งเสริมการเรืองแสงรังสีเอกซ์ตีธาตุ .
บางศรีเรือง ที่พื้นผิวของเครื่องหนี และไม่เก็บโดยเครื่องตรวจจับ .
ผลเป็นยอดที่ปรากฏในสเปกตรัมที่ : องค์ประกอบเคฟ - ศรีเคฟ ( 1.74 เคฟ )