When the optical properties as a fu

When the optical properties as a function of the wavelength (refractive index and
real and imaginary part of the dielectric function) of the thin film and the substrate
are known, one can simulate the infrared spectra. The results of such a simulation can be used to make a detailed interpretation of the FTIR spectra and it is possible to obtain the thickness of the thin film in principle without the need for a calibration.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เมื่อคุณสมบัติแสงเป็นฟังก์ชันของความยาวคลื่น (ดรรชนี และจริง และจินตนาการเป็นส่วนหนึ่งของการเป็นฉนวน) ของฟิล์มบางและพื้นผิวเป็นที่รู้จัก หนึ่งสามารถจำลองสเปกตรัมอินฟราเรด สามารถใช้ผลลัพธ์ของการจำลองเพื่อให้การตีความรายละเอียดของสเปกตรัม FTIR และจำเป็นต้องขอรับความหนาของฟิล์มบางในหลักการโดยไม่ต้องการสอบเทียบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เมื่อคุณสมบัติของเลนส์เป็นหน้าที่ของความยาวคลื่น (ดัชนีหักเหและ
ส่วนจริงและจินตภาพของฟังก์ชั่นอิเล็กทริก) ของฟิล์มบางและพื้นผิว
เป็นที่รู้จักกันคนหนึ่งสามารถจำลองอินฟราเรดสเปกตรัม ผลที่ได้จากการจำลองดังกล่าวสามารถนำมาใช้เพื่อให้ตีความรายละเอียดของสเปกตรัม FTIR และเป็นไปได้ที่จะได้รับความหนาของฟิล์มบางในหลักการโดยไม่จำเป็นต้องสอบเทียบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เมื่อแสงคุณสมบัติเป็นฟังก์ชันของความยาวคลื่น ( refractive index และส่วนจริงและจินตภาพของฟังก์ชันไดอิเล็กตริกของฟิล์มบางและวัสดุเป็นที่รู้จักกัน หนึ่งสามารถจำลองสเปกตรัมอินฟราเรด ผลของสถานการณ์จำลองที่สามารถใช้เพื่อให้รายละเอียดการตีความของ FTIR spectra และเป็นไปได้เพื่อให้ได้ความหนาของฟิล์มบางในหลักการโดยไม่ต้องมีการสอบเทียบ