and examined using a Field Emission

and examined using a Field Emission Scanning Electron Microscopy (FE-SEM, S-4800, Hitachi Co., Ltd., Matsuda, Japan) with an accelerating voltageof 5.0 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และตรวจสอบโดยใช้การการปล่อยแกนชาวดัตช์ (FE SEM, S-4800 ฮิตาชิ Co., Ltd. มัทสึดะ ญี่ปุ่น) กับการ voltageof เร่ง 5.0 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และตรวจสอบการใช้สนาม Emission กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM S-4800 ฮิตาชิ จำกัด Matsuda, ญี่ปุ่น) ที่มีการเร่ง voltageof 5.0 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และการตรวจสอบการใช้ข้อมูลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fe-sem s-4800 , ฮิตาชิ , กัดดะ , ญี่ปุ่น ) ด้วยการเร่ง voltageof 5.0 กิโล .