the range of 12.5bRb20 nm and a sig

the range of 12.5bRb20 nm and a significant monodisperse population
of small NPs in the silver glass case with an average radius of
R≈2 nm. XRD confirms the presence of silver and copper crystallites
but lower than the NPs size. We suggest that an oxidizing layer has to
be considered in both cases. These results reveal the difficulty to initiate
the precipitation in copper NPs in comparison with silver (see
Eq. (8)). The size of the NPs is a consequence of the concentration
gradient formed around the amount of initials Ag0 or Cu0. The infrared
analysis has revealed the existence of Ag-O or Cu-O bonds after
staining. All the noble metal has not precipitated in NPs after this
thermal condition. This new information suggests that an average
maximal fill factor evaluation is the most appropriate for a future
optical estimate: SEM analyses have given fAg=0.5% and fCu=3% respectively
for silver and copper fill factors associated to their middle
thickness lAg=8 μm and lCu=10 μm. the infrared measurement has
revealed a clear trend towards the depolymerization of the silicate
network after staining. This depolymerization comes from the several
steps but not necessarily from ionic exchange:

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ช่วง 12.5bRb20 nm และประชากร monodisperse สำคัญของ NPs เล็กในกรณีเงินแก้วมีรัศมีเฉลี่ยNm R≈2 การ XRD ยืนยันสถานะของเงิน และทองแดง crystallitesแต่ต่ำกว่าขนาด NPs เราขอแนะนำว่า ชั้นการเติมออกซิเจนเป็นเป็นทั้งสองกรณี ปัญหาการเริ่มต้นเปิดเผยผลลัพธ์เหล่านี้ฝนใน NPs ทองแดงเมื่อเปรียบเทียบกับเงิน (ให้ดูที่Eq. (8)) ขนาดของ NPs เป็นผลมาจากความเข้มข้นการไล่ระดับสีที่เกิดขึ้นรอบ ๆ ยอดของชื่อย่อ Ag0 หรือ Cu0 อินฟราเรดวิเคราะห์ได้เปิดเผยการดำรงอยู่ของ Ag-O หรือ Cu O พันธบัตรหลังย้อมสี ไม่มีตะกอนใน NPs โลหะตระกูลทั้งหมดหลังจากนี้สภาพความร้อน แนะนำข้อมูลใหม่ที่มีค่าเฉลี่ยเติมสูงสุดปัจจัยประเมินจะเหมาะสมสุดสำหรับในอนาคตประเมินแสง: วิเคราะห์ SEM มีให้ fAg=0.5% และ fCu = 3% ตามลำดับสำหรับการเติมเงิน และทองแดงปัจจัยที่เกี่ยวข้องกับของกลางความล่าช้าความหนา = 8 μm และ lCu = 10 μm วัดอินฟราเรดได้เปิดเผยแนวโน้มที่ชัดเจนต่อการ depolymerization ซิลิเคทเครือข่ายหลังจากการย้อมสี Depolymerization นี้มาจากหลายขั้นตอน แต่ไม่จำเป็นต้องแลกเปลี่ยน ionic:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ช่วงของนาโนเมตร 12.5bRb20 และประชากร monodisperse อย่างมีนัยสำคัญ
ของ NPS เล็ก ๆ ในกรณีที่กระจกสีเงินที่มีรัศมีเฉลี่ยของ
R≈2นาโนเมตร XRD ยืนยันสถานะของ crystallites เงินและทองแดง
แต่ต่ำกว่าขนาดของกรมอุทยานฯ เราขอแนะนำให้ชั้นออกซิไดซ์ได้ที่จะ
ได้รับการพิจารณาในทั้งสองกรณี ผลการศึกษานี้แสดงให้เห็นถึงความยากลำบากในการเริ่มต้น
การตกตะกอนใน NPS ทองแดงเมื่อเทียบกับเงิน (ดู
สม. (8)) ขนาดของ NPS เป็นผลมาจากความเข้มข้นของ
การไล่ระดับสีที่เกิดขึ้นรอบ ๆ ปริมาณของชื่อย่อ AG0 หรือ Cu0 อินฟราเรด
วิเคราะห์ได้เปิดเผยการดำรงอยู่ของ Ag-O หรือพันธบัตร Cu-O หลังจาก
การย้อมสี ทั้งหมดโลหะมีเกียรติยังไม่ได้ตกตะกอนใน NPS หลังจากนี้
สภาพความร้อน ข้อมูลใหม่นี้แสดงให้เห็นว่าโดยเฉลี่ย
เติมสูงสุดการประเมินปัจจัยที่เป็นที่เหมาะสมที่สุดสำหรับอนาคต
ประมาณการแสง: SEM วิเคราะห์ได้ให้อ่อนล้า = 0.5% และ FCU = 3% ตามลำดับ
สำหรับเงินและทองแดงกรอกปัจจัยที่เกี่ยวข้องไปตรงกลางของพวกเขา
มีความหนา Lag = 8 ไมโครเมตร และ LCU = 10 ไมโครเมตร วัดอินฟาเรดได้
เผยให้เห็นแนวโน้มที่ชัดเจนต่อ depolymerization ของซิลิเกต
เครือข่ายหลังจากการย้อมสี depolymerization นี้มาจากหลาย
ขั้นตอน แต่ไม่จำเป็นต้องมาจากการแลกเปลี่ยนอิออน:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ช่วง 12.5brb20 nm และสําคัญ monodisperse ประชากร
ของเชื้อเพลิงที่เล็กในแก้วเงินกรณีมีรัศมีเฉลี่ยของ
r ≈ 2 นาโนเมตร ตรวจยืนยันการแสดงตนของ เงิน และทองแดง crystallites
แต่ต่ำกว่าแนวขนาด เราขอแนะนำว่า ออกซิไดซ์ชั้นได้

ถือว่าในทั้งสองกรณี ผลลัพธ์เหล่านี้แสดงความยากที่จะเริ่มต้น
การตกตะกอนในแนวทองแดงในการเปรียบเทียบกับเงิน ( ดู
อีคิว ( 8 ) ) ขนาดของเชื้อเพลิงที่เป็นผลมาจากความเข้มข้น
ลาดที่เกิดขึ้นรอบ ๆ ปริมาณของชื่อย่อ ag0 หรือ cu0 . การวิเคราะห์อินฟราเรด
ได้เปิดเผยการดำรงอยู่ของ ag-o หรือพันธบัตร cu-o หลังจาก
staining ทั้งหมดโลหะมีตระกูลไม่ตกตะกอนในกฟผ. หลังจากนี้
ความร้อนเงื่อนไขข้อมูลใหม่แสดงให้เห็นว่าการประเมินปัจจัยที่เติมสูงสุดเฉลี่ย
มีความเหมาะสมมากที่สุด เพื่ออนาคต
แสงประมาณ : SEM วิเคราะห์ให้กระเทย = 0.5% และ fcu = 3 ตามลำดับ
สำหรับเงินและปัจจัยที่เกี่ยวข้องของทองแดงเติมกลาง
หนาล่าช้า = 8 μ M และ lcu = 10 μเมตร การวัดแสงอินฟราเรดได้พบแนวโน้มที่ชัดเจนต่อ

การแตกตัวของซิลิเกตเครือข่ายหลังจาก staining การแตกตัวนี้มาจากหลายขั้นตอน
แต่ไม่จำเป็นต้องแลกเปลี่ยนไอออน :