cereus during germination, harvesting, packaging, and transporting, are associated with outbreaks of foodbome diseases, Previ- ously, y-irradiation of alfalfa, radish, and mung bean sprouts was discovered to effectively reduce foodbome pathogen content (to undetectable levels). Additionally, the FDA has approved the decontamination of sprouts (up to 1 kGy) and seeds (up to 8 kGy) by irradiation. Schoeller, Ingham. and Ingham (2002) discovered that the application of a 3.3 or 5.3 kGy e-beam successfully eliminates L. monocyto- genes growth on alfalfa sprouts. It has been previously suggested that the use of soft elec- trons (low energy) can ensure surface decontamination of cereals and beans (Table 2). However, the above study indi- cated the need for uniform and homogeneous irradiation of soft electrons on food surface to achieve complete decon- tamination. The greatest drawback of using soft electrons
cereus ในระหว่างการงอก, การเก็บเกี่ยว, บรรจุภัณฑ์, และการขนส่ง, มีความเกี่ยวข้องกับการระบาดของโรค foodbome, Previ, การฉายรังสี y ของฟา, หัวไชเท้า, และเมล็ดถั่วงอกถูกค้นพบอย่างมีประสิทธิภาพลดปริมาณเชื้อโรค ระดับที่ไม่ได้ นอกจากนี้, FDA ได้อนุมัติการปนเปื้อนของถั่วงอก (ถึง 1 kGy) และเมล็ด (ถึง 8 kGy) โดยการฉายรังสี. สเลอร์, ชอบ และชอบ (๒๐๐๒) ค้นพบว่าแอพลิเคชันของ๓.๓หรือ๕.๓ kGy e-คานประสบความสำเร็จในการลดการเจริญเติบโตของยีน. มันได้รับการแนะนำก่อนหน้านี้ว่าการใช้ของ elec อ่อน-trons (พลังงานต่ำ) สามารถมั่นใจได้ว่าการปนเปื้อนของธัญพืชและถั่ว (ตาราง 2) อย่างไรก็ตาม, การศึกษาดังกล่าวข้างต้นความต้องการสำหรับเครื่องแบบและการฉายรังสีที่เป็นเนื้อเดียวกันของอิเล็กตรอนอ่อนบนพื้นผิวอาหารเพื่อให้บรรลุการ deon-การเติมเต็ม. ข้อเสียเปรียบที่ยิ่งใหญ่ที่สุดของการใช้อิเล็กตรอนอ่อน
การแปล กรุณารอสักครู่..
