Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) was employed to characterize the morphology of raw materials and the condition of fibers and parenchyma cells in the panels related to bonding quality between the materials.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) การสแกนถูกจ้างลักษณะสัณฐานของวัตถุดิบและสภาพของเส้นใยและเซลล์พาเรงไคมาในการติดตั้งที่เกี่ยวข้องกับการยึดติดระหว่างวัสดุมีคุณภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ถูกจ้างมาเพื่ออธิบายลักษณะทางสัณฐานวิทยาของวัตถุดิบและสภาพของเส้นใยและเซลล์เนื้อเยื่อในแผงที่เกี่ยวข้องกับคุณภาพพันธะระหว่างวัสดุที่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) มาใช้ในการอธิบายลักษณะของวัตถุดิบ และสภาพของเส้นใยและพาเรนไคมาเซลล์ ในเซลล์ที่เกี่ยวข้องกับคุณภาพเชื่อมระหว่างวัสดุ