The nanostructured materials are ch

The nanostructured materials are characterized by X-ray diffraction (XRD) using Bruker D8 Advance powder diffractometer operating in the reflection mode with copper radiation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัสดุ nanostructured มีลักษณะ โดยการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD) ใช้ diffractometer ผง Bruker D8 ล่วงหน้าทำงานในโหมดสะท้อนกับรังสีทองแดง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัสดุอิเล็กทรอนิคส์ที่โดดเด่นด้วย X-ray diffraction (XRD) โดยใช้มาตรการเลี้ยวเบน Bruker D8 ล่วงหน้าผงทำงานในโหมดสะท้อนด้วยการฉายรังสีทองแดง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ด้านวัสดุนาโนมีลักษณะการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์โดยใช้ BRUKER d8 ล่วงหน้าผงดิฟแฟรกโทมิเตอร์ทำงานในโหมดสะท้อนรังสีทองแดง