equipment. Defects and relief disto

equipment. Defects and relief distortions caused by elastic deformation during copying, excessive ware and mechanical damage of master-matrix lead to degradation of holographic image and loss of its unique security features. Thus the problem of prior master-matrix quality inspection causes a special interest of SH mass manufacturers.
The purpose of this work is to develop a method to carry out an objective assessment about the quality of the master-matrix of security holograms.
Currently, there is no consensus for approaches to assessing the quality of security holograms. Assuming that quality inspection carried out on selected areas of security holograms design, the inspection can be reduced to the measurement of the following parameters of the diffraction grating:
- spatial frequency Ȟ;
- grating depth d;
- number of periods in the grating N; - grating orientation ij.
Due to the period of gratings has a value of about 1 μm, the method based on direct measurement of the diffraction gratings parameters can be used. Such parameters as profile shape, spatial frequency and grating depth can be directly measured with the microscope. However, the disadvantage of this method is labor intensity and duration of the grating parameters measurement.
An alternative to this method is an indirect method of measurement. It is known that:
1) For a given value of wavelength the intensity distribution I over the diffraction orders of the phase grating depends on the grating depth d.
2) For a given value of the incidence wavefront angle, the value of diffraction orders angles depends on the value of the spatial frequency.
3) The orientation of the plane in which there are positive and negative diffraction orders depends on the orientation diffraction grating ij.
4) Angular size of the diffraction orders (or angular selectivity) depends on the number of periods in the grating N.
Therefore, with measuring the value of the intensity distribution, the orientation of the plane and the angular size of the diffraction orders we can uniquely estimate the parameters of the grating.
2. Diffraction in the reflective phase grating
Known mathematical expressions describing within the scalar theory of diffraction process in the reflective phase grating as described by M. Born, E. Wolf (1973) and A.M. Khorokhorov, A.M. Klishyuk et al (2005). Fig. 1 explains the occurrence of phase shift in the diffraction on the sinusoidal reflective grating.
The equation of the phase grating surface can be represented as

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อุปกรณ์ ข้อบกพร่องและเกิดจากแมพยืดหยุ่นในระหว่างการคัดลอก พัสดุมากเกินไปและความเสียหายทางกลของเมทริกซ์ต้นแบบนำไปสร้างภาพโฮโลแกรมและสูญเสียคุณสมบัติความบิดเบือนในการบรรเทาทุกข์ ดังนั้น ปัญหาของการตรวจสอบคุณภาพเมทริกซ์หลักก่อนหน้าทำให้ประโยชน์ของผู้ผลิตโดยรวมดี วัตถุประสงค์ของงานนี้คือการ พัฒนาวิธีการดำเนินการประเมินวัตถุประสงค์เกี่ยวกับคุณภาพของเมทริกซ์หลักของไมโครซอฟท์ความปลอดภัย ในปัจจุบัน มีมติไม่สำหรับแนวทางการประเมินคุณภาพของความปลอดภัยไมโครซอฟท์ สมมติว่าตรวจสอบคุณภาพดำเนินการในพื้นที่ที่เลือกของการออกแบบความปลอดภัยไมโครซอฟท์ ตรวจสอบจะลดลงการวัดพารามิเตอร์ของ grating การเลี้ยวเบนดังต่อไปนี้: -ความถี่ปริภูมิȞ -grating ความลึก d -หมายเลขของ grating N -grating แนว ij แค เนื่องจากระยะของ gratings ผ่านความพยายามมีค่าประมาณ 1 μm สามารถใช้วิธียึดโดยตรงการวัดพารามิเตอร์ gratings ผ่านความพยายามของการเลี้ยวเบน เช่นพารามิเตอร์รูปโปรไฟล์ ปริภูมิความถี่ และความลึกของ grating สามารถจะวัด ด้วยกล้องจุลทรรศน์โดยตรง อย่างไรก็ตาม ข้อเสียของวิธีนี้คือ แรงงานเข้มข้นและระยะเวลาของ grating ที่วัดพารามิเตอร์ ทางเลือกวิธีนี้เป็นวิธีการทางอ้อมในการประเมิน เป็นที่รู้จักกันที่: 1) สำหรับการกำหนดค่าความยาวคลื่นการกระจายความเข้ม ผมมากกว่าสั่งการเลี้ยวเบนของระยะลูกกรงขึ้นอยู่กับความลึก grating d 2) การกำหนดค่ามุมส่งอุบัติการณ์ ค่าของมุมการเลี้ยวเบนใบสั่งขึ้นอยู่กับค่าของความถี่ในปริภูมิ 3) การวางแนวของเครื่องบินที่มีการเลี้ยวเบนที่บวก และลบขึ้นอยู่กับ ij แค grating การเลี้ยวเบนแนว 4) ขนาดแองกูลาร์ของใบสั่งการเลี้ยวเบน (หรือวิธีแองกูลาร์) ขึ้นอยู่กับจำนวนของ grating N. ดังนั้น ด้วยการวัดค่าของการกระจายความเข้ม การวางแนวของเครื่องบินและขนาดของการเลี้ยวเบนที่แองกูลาร์สั่งเราโดยเฉพาะสามารถประเมินพารามิเตอร์ของ grating ที่ 2. การเลี้ยวเบนใน grating ระยะสะท้อนแสง เรียกนิพจน์ทางคณิตศาสตร์ที่อธิบายในทฤษฎีสเกลาของกระบวนการเลี้ยวเบนใน grating ระยะสะท้อนแสงตามที่อธิบายไว้ โดย บอร์นเมตร อีหมาป่า (1973) Khorokhorov น. น. Klishyuk et al (2005) Fig. 1 อธิบายการกะระยะในการเลี้ยวเบนที่เกิดบน grating สะท้อน sinusoidal สามารถแสดงสมการของระยะ grating พื้นผิวเป็น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อุปกรณ์. ข้อบกพร่องและการบิดเบือนความโล่งใจที่เกิดจากความผิดปกติในระหว่างการคัดลอกยืดหยุ่นเครื่องมากเกินไปและความเสียหายทางกลของตะกั่วต้นแบบเมทริกซ์ในการย่อยสลายของภาพสามมิติและการสูญเสียคุณสมบัติด้านความปลอดภัยที่เป็นเอกลักษณ์ ดังนั้นปัญหาที่เกิดจากการตรวจสอบคุณภาพต้นแบบเมทริกซ์ก่อนที่ทำให้เกิดความสนใจเป็นพิเศษของผู้ผลิตมวล SH. the
วัตถุประสงค์ของงานนี้คือการพัฒนาวิธีการที่จะดำเนินการประเมินวัตถุประสงค์เกี่ยวกับคุณภาพของต้นแบบเมทริกซ์ของโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัย.
ปัจจุบันมี มติสำหรับวิธีการประเมินคุณภาพของโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัยไม่มี สมมติว่าการตรวจสอบคุณภาพดำเนินการในพื้นที่ที่เลือกของการออกแบบโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัยการตรวจสอบสามารถลดการวัดพารามิเตอร์ต่อไปนี้ของตะแกรงเลี้ยวเบนไปนี้:
- Ȟความถี่เชิงพื้นที่
- d ลึกตะแกรง;
- จำนวนของระยะเวลาในตะแกรงไม่มี; -.
ตะแกรงวางแนวทางเจเนื่องจากระยะเวลาของการgratings มีค่าประมาณ 1 ไมโครเมตรวิธีการที่อยู่บนพื้นฐานของการวัดโดยตรงของ gratings เลนส์พารามิเตอร์ที่สามารถนำมาใช้ พารามิเตอร์เช่นรูปร่างรายละเอียดความถี่เชิงพื้นที่และเชิงลึกตะแกรงสามารถวัดได้โดยตรงกับกล้องจุลทรรศน์ แต่ข้อเสียของวิธีนี้คือความเข้มแรงงานและระยะเวลาของพารามิเตอร์ตะแกรงวัด.
ทางเลือกที่จะใช้วิธีการนี้เป็นวิธีการทางอ้อมของการวัด เป็นที่รู้จักกันว่า
1) สำหรับค่าที่กำหนดความยาวคลื่นกระจายความเข้มที่ฉันมากกว่าคำสั่งการเลี้ยวเบนของตะแกรงขั้นตอนขึ้นอยู่กับ d ลึกตะแกรง.
2) ค่าสำหรับรับของมุมหน้าคลื่นอุบัติการณ์ค่าของมุมที่สั่งซื้อเลนส์ ขึ้นอยู่กับมูลค่าของความถี่เชิงพื้นที่.
3) ทิศทางของเครื่องบินในการที่มีการสั่งซื้อเลนส์บวกและลบขึ้นอยู่กับการเลี้ยวเบนการวางตะแกรงเจได้.
4) ขนาดเชิงมุมของการสั่งซื้อเลนส์ (หรือเลือกมุม) ขึ้นอยู่กับจำนวน
ระยะเวลาในตะแกรงเอ็นจึงมีการวัดค่าความเข้มของการกระจายที่ทิศทางของเครื่องบินและขนาดเชิงมุมของการสั่งซื้อเลนส์ที่เราไม่ซ้ำกันสามารถประมาณค่าพารามิเตอร์ของตะแกรงที่.
2 เลนส์ในขั้นตอนการสะท้อนแสงตะแกรงหรือเป็นที่รู้จักนิพจน์ทางคณิตศาสตร์ที่อธิบายในทฤษฎีเกลาของกระบวนการการเลี้ยวเบนในขั้นตอนการสะท้อนแสงตะแกรงตามที่อธิบายไว้โดยเอ็มวันเกิดอีหมาป่า (1973) และ AM Khorokhorov, AM Klishyuk, et al (2005)
มะเดื่อ. 1 อธิบายถึงการเกิดขึ้นของกะระยะในการเลี้ยวเบนบนตะแกรงสะท้อนซายน์ได้.
สมการของพื้นผิวเฟสตะแกรงที่สามารถแสดงเป็น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อุปกรณ์ ข้อบกพร่องและบรรเทาการบิดเบือนที่เกิดจากการเสียรูปในการคัดลอกเครื่องมากเกินไป และความเสียหายทางกล ของอาจารย์เมทริกซ์นำไปสู่การสลายตัวของภาพโฮโลแกรมและสูญเสียคุณสมบัติด้านความปลอดภัยที่เป็นเอกลักษณ์ ดังนั้นปัญหาของเมทริกซ์ต้นแบบก่อนการตรวจสอบคุณภาพให้เกิดความสนใจพิเศษของผู้ผลิตมวล SH .
วัตถุประสงค์ของงานวิจัยนี้เพื่อพัฒนาวิธีการดําเนินการประเมินวัตถุประสงค์เกี่ยวกับคุณภาพของโทโฮโลแกรมเมทริกซ์ของการรักษาความปลอดภัย
ในปัจจุบันยังไม่มีฉันทามติแนวทางการประเมินคุณภาพของโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัย สมมติว่าคุณภาพการตรวจสอบดำเนินการในพื้นที่ที่เลือกของการรักษาความปลอดภัยการออกแบบโลแกรมการตรวจสอบจะลดลงถึงการวัดพารามิเตอร์ต่อไปนี้ของการเลี้ยวเบนตะแกรง :
- เชิงความถี่Ȟ ;
- ตะแกรงความลึก d ;
- จำนวนคาบในตะแกรงตะแกรง IJ N ; - การปฐมนิเทศ
เนื่องจากระยะเวลาของ gratings มีมูลค่าประมาณ 1 μ M , วิธีการขึ้นอยู่กับการวัดโดยตรงของการเลี้ยวเบน gratings พารามิเตอร์สามารถใช้ พารามิเตอร์เช่นโปรไฟล์ของรูปร่างความถี่เชิงพื้นที่และตะแกรงลึกสามารถวัดโดยตรงด้วยกล้องจุลทรรศน์ อย่างไรก็ตาม ข้อเสียของวิธีนี้คือ แรงงาน ความรุนแรงและระยะเวลาของตะแกรงการวัดพารามิเตอร์
ทางเลือกวิธีนี้เป็นวิธีทางอ้อมของการวัด มันเป็นที่รู้จักกันว่า :
1 ) เพื่อระบุค่าความยาวคลื่น ความเข้มกระจายผมผ่านเลนส์ระยะขึ้นอยู่กับคำสั่งของตะแกรงตะแกรงความลึก d .
2 ) เพื่อระบุค่าของการเกิดคลื่นที่มุม ค่าโดยคำสั่งมุมขึ้นอยู่กับค่าของความถี่เชิงพื้นที่
3 ) การกำหนดเป้าหมายของเครื่องบินซึ่งมีบวกและลบ โดยขึ้นอยู่กับการสั่งเลนส์ลูกกรง แอลเจ
4 ) ขนาดเชิงมุมของการเลี้ยวเบนคำสั่ง ( หรือเชิงมุมหัวกะทิ ) ขึ้นอยู่กับจำนวนงวดในตะแกรง .
ดังนั้น ด้วยการวัดค่าความเข้มของการกระจาย