Transmission electron microscopy (T

Transmission electron microscopy (TEM) measurements were
made on a TECNAI F20 (FEI Co., Holland) high resolution transmis-
sion electron microscope operated at an accelerating voltage of
200 kV. The samples for TEM characterization were prepared by
placing a drop of colloidal solution on carbon-coated copper grid
and dried at room temperature.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งชาวดัตช์ (TEM) วัดได้ทำเป็น F20 TECNAI (บริษัทเฟย ฮอลแลนด์) ความละเอียดสูง transmis -กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน sion งานที่แรงดันการเร่งของ200 kV มีเตรียมตัวอย่างสำหรับจำแนกลักษณะ TEM โดยการหล่นของโซลูชัน colloidal บนตารางคาร์บอนเคลือบทองแดงและอบแห้งที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) วัดถูก
ทำใน TECNAI F20 (FEI Co. , ฮอลแลนด์) ความละเอียดสูง transmis-
Sion กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทำงานที่แรงดันไฟฟ้าเร่งของ
200 กิโลโวลต์ กลุ่มตัวอย่างที่ใช้สำหรับ TEM ตัวละครที่ถูกจัดทำขึ้นโดย
การวางลดลงของการแก้ปัญหาคอลลอยด์คาร์บอนเคลือบตารางทองแดง
และแห้งที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) เป็นหน่วยวัดทำใน tecnai f20 ( เฟย Co . , ฮอลแลนด์ ) transmis - ความละเอียดสูงไซออนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนดำเนินการเร่งแรงดัน200 KV . กลุ่มตัวอย่างที่ใช้ในการศึกษาเป็นแบบเตรียมโดยวางหยดสารละลายคอลลอยด์ในตารางคาร์บอนเคลือบทองแดงและอบแห้งที่อุณหภูมิห้อง