A lumped parameter model which incl

A lumped parameter model which includes capacitances
should be sufficient to examine the influence of inductive
VTs on transient measurements obtained using a power
quality monitor, given the typical sample frequencies used. It
would be ideal if a wide band model were available for every
inductive VT used for power quality measurements. The
problem with this approach is that wide band models are
complex, and require each VT transfer function to be
measured over a wide range of frequencies. Constructing a
low frequency model, using 50Hz data, is comparatively
simple. This low frequency model is insufficient to represent
the VT behaviour beyond a few hundred Hertz. The addition
of lumped capacitances to the low frequency model extends
the bandwidth to several kHz. Measuring the stray
capacitances of a particular VT is still fairly onerous, but the
model is much simpler than that needed for a wide band
model.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แบบ lumped พารามิเตอร์ซึ่งประกอบด้วย capacitances ควรเพียงพอที่จะตรวจสอบอิทธิพลของเชิงอุปนัย ภาวะ vts เต้นในวัดชั่วคราวที่ได้รับการใช้พลังงาน คุณภาพจอ ให้ใช้ความถี่ตัวอย่างทั่วไป มัน เหมาะแบบวงกว้างได้สำหรับทุก เหนี่ยว VT ที่ใช้สำหรับการวัดคุณภาพไฟฟ้า ที่ ปัญหา ด้วยวิธีการนี้คือรูปแบบวงกว้าง ซับซ้อน และฟังก์ชันโอนย้ายแต่ละ VT จะ วัดช่วงกว้างของความถี่ ในการสร้างความ รูปแบบความถี่ต่ำ ใช้ข้อมูล 50Hz มีดีอย่างหนึ่ง ง่าย ๆ รุ่นนี้ความถี่ต่ำเพียงพอเพื่อแสดง พฤติกรรม VT เกินกี่ร้อยเฮิรตซ์ การเพิ่ม รูปขยายของ capacitances lumped ความถี่ต่ำ แบนด์วิธถึงหลาย kHz วัดไตรโลก ยังคงเป็น capacitances ของ VT เฉพาะค่อนข้าง onerous แต่ แบบจำลองจะง่ายกว่ามากกว่าที่จำเป็นในวงกว้าง แบบจำลอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบพารามิเตอร์ lumped ซึ่งรวมถึงการประจุ
ควรจะเพียงพอที่จะตรวจสอบอิทธิพลของอุปนัย
VTs วัดชั่วคราวที่ได้รับการใช้อำนาจ
การตรวจสอบคุณภาพให้ความถี่ตัวอย่างทั่วไปที่ใช้ มัน
จะเหมาะถ้ารูปแบบวงกว้างที่มีอยู่สำหรับทุก
VT อุปนัยใช้สำหรับการตรวจวัดคุณภาพไฟฟ้า
ปัญหาด้วยวิธีนี้คือว่ารูปแบบวงกว้าง
ที่ซับซ้อนและต้องใช้ในแต่ละฟังก์ชั่นการถ่ายโอน VT ที่จะ
วัดในช่วงที่กว้างของความถี่ การสร้าง
แบบจำลองที่มีความถี่ต่ำโดยใช้ข้อมูล 50Hz, ค่อนข้าง
ง่าย รุ่นนี้มีความถี่ต่ำไม่เพียงพอที่จะเป็นตัวแทนของ
พฤติกรรม VT เกินกี่ร้อยเฮิรตซ์ นอกจากนี้
ของประจุ lumped กับรูปแบบความถี่ต่ำขยาย
แบนด์วิดธ์หลายเฮิร์ทซ์ วัดจรจัด
ประจุของโดยเฉพาะอย่างยิ่ง VT ยังคงเป็นภาระเป็นธรรม แต่
รูปแบบเป็นเรื่องง่ายกว่าที่จำเป็นสำหรับการเป็นวงกว้าง
แบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็นพารามิเตอร์ซึ่งรวมถึงก้อนแบบ capacitances
ควรจะเพียงพอที่จะศึกษาอิทธิพลของ vts อุปนัย
ในวัดชั่วคราวที่ได้ใช้พลัง
ติดตามตรวจสอบคุณภาพให้ทั่วไป ตัวอย่าง ความถี่ที่ใช้ ครับผมจะเหมาะถ้าไวด์แบนด์รุ่นที่มีอยู่สำหรับทุก
อุปนัย VT ใช้สําหรับการวัดคุณภาพไฟฟ้า
ปัญหาด้วยวิธีนี้คือ แบบไวด์แบนด์เป็น
ซับซ้อนและต้องการการถ่ายโอนแต่ละฟังก์ชันจะ
VT วัดเหนือช่วงกว้างของความถี่ สร้างแบบจำลองโดยใช้ข้อมูลความถี่ต่ำ
, 50Hz , comparatively
ง่ายๆ รุ่นนี้มีความถี่ต่ำเพียงพอที่จะเป็นตัวแทน
VT พฤติกรรมเกินสองสามร้อยเฮิรตซ์ นอกจากนี้
ของก้อน capacitances กับรูปแบบความถี่ต่ำขยาย
แบนด์วิดธ์หลายกิโลเฮิร์ทซ์ วัดหลง
capacitances ของ VT เฉพาะยังค่อนข้างหนักแต่
แบบง่ายกว่าที่จําเป็นสําหรับไวด์แบนด์
นางแบบ