Over a decade ago D'Heurle1 demonst

Over a decade ago D'Heurle1 demonstrated a roughly linear dependence of the median
time to failure (t50) with the copper content of electromigration stressed films obtained by E-beam deposition.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กว่าทศวรรษที่ผ่านมาแสดงให้เห็นถึง D'Heurle1 พึ่งพาเชิงเส้นประมาณของค่ามัธยฐาน
เวลาที่จะล้มเหลว (T50) ที่มีเนื้อหาทองแดงของ electromigration เน้นภาพยนตร์ที่ได้รับจากการทับถม E-คาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กว่าทศวรรษที่ผ่านมา d'heurle1 แสดงการประมาณเชิงเส้นของเวลาเฉลี่ย
ความล้มเหลว ( t50 ) กับทองแดงเนื้อหาของภาพยนตร์ e-beam electromigration เครียดได้โดยการ