IFRA, an acronym for Instruction Fo

IFRA, an acronym for Instruction Footprint Recording and Analysis, overcomes major challenges associated with a very expensive step in post-silicon validation of processors---pinpointing a bug location and the instruction sequence that exposes the bug from a system failure, such as a crash. Special on-chip recorders, inserted in a processor during design, collect instruction footprints---special information about flows of instructions, and what the instructions did as they passed through various microarchitectural blocks of the processor. The recording is done concurrently during the normal operation of the processor in a post-silicon system validation setup. Upon detection of a system failure, the recorded information is scanned out and analyzed offline for bug localization. Special self-consistency-based program analysis techniques, together with the test-program binary of the application executed during post-silicon validation, are used for this purpose. Major benefits of using IFRA over traditional techniques for post-silicon bug localization are (1) it does not require full system-level reproduction of bugs, and (2) it does not require full system-level simulation. Hence, it can overcome major hurdles that limit the scalability of traditional post-silicon validation methodologies. Simulation results on a complex superscalar processor demonstrate that IFRA is effective in accurately localizing electrical bugs with 1% chip-level area impact.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

IFRA คำย่อสำหรับคำรอยบันทึกและวิเคราะห์ overcomes ความท้าทายสำคัญที่เกี่ยวข้องกับขั้นตอนที่มีราคาแพงมากในการตรวจสอบหลังซิลิคอนโปรเซสเซอร์-pinpointing ตำแหน่งบกพร่องและลำดับการสอนที่แสดงถึงปัญหาจากความล้มเหลวระบบ เช่นล้ม เครื่องอัดบนชิปพิเศษ แทรกในโปรแกรมประมวลผลในระหว่างการออกแบบ เก็บรอยเท้าสอน---ข้อมูลพิเศษเกี่ยวกับขั้นตอนของคำสั่ง และสิ่งคำแนะนำได้ ตามที่พวกเขาผ่านทางบล็อก microarchitectural ต่าง ๆ ของตัวประมวลผล บันทึกแล้วในระหว่างการดำเนินงานปกติของตัวประมวลผลในการตั้งค่าการตรวจสอบระบบซิลิคอนหลังพร้อม เมื่อตรวจพบความล้มเหลวของระบบ ข้อมูลที่บันทึกไว้จะสแกนออก และวิเคราะห์แบบออฟไลน์สำหรับแปลข้อผิดพลาด พิเศษด้วยตนเองสอดคล้องโปรแกรมวิเคราะห์เทคนิค กับไบนารีของโปรแกรมประยุกต์ที่ดำเนินการระหว่างซิลิคอนหลังสอบ ทดสอบโปรแกรมที่ใช้สำหรับวัตถุประสงค์นี้ ประโยชน์หลักของการใช้ IFRA มากกว่าเทคนิคดั้งเดิมสำหรับซิลิคอนหลังบักแปลได้ (1) ไม่ต้องทำเต็มระบบระดับของโรคจิต และ (2) ไม่ต้องจำลองระดับระบบเต็มรูปแบบ ดังนั้น จึงสามารถเอาชนะอุปสรรคสำคัญที่จำกัดขนาดของวิธีการตรวจสอบหลังซิลิคอนแบบดั้งเดิม ผลการทดลองบนตัวประมวลผล superscalar ซับซ้อนแสดงว่า IFRA มีประสิทธิภาพแม่นยำทั้งบักไฟฟ้า มีผลกระทบระดับชิตั้ง 1%

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

IFRA, ตัวย่อสำหรับการเรียนการสอนการบันทึกรอยพระพุทธบาทและการวิเคราะห์การเอาชนะความท้าทายที่สำคัญที่เกี่ยวข้องกับขั้นตอนที่มีราคาแพงมากในการตรวจสอบการโพสต์ซิลิกอนของโปรเซสเซอร์ --- pinpointing ตั้งข้อผิดพลาดและลำดับการเรียนการสอนที่ exposes ข้อผิดพลาดจากความล้มเหลวของระบบเช่น ความผิดพลาด พิเศษบันทึกบนชิปแทรกในการประมวลผลในช่วงการออกแบบการเรียนการสอนเก็บรอยเท้า --- ข้อมูลพิเศษเกี่ยวกับกระแสของคำสั่งและคำแนะนำในสิ่งที่ไม่เป็นพวกเขาเดินผ่านบล็อก microarchitectural ต่างๆของหน่วยประมวลผล ในการบันทึกภาพจะทำควบคู่กันไประหว่างการดำเนินงานปกติของหน่วยประมวลผลในระบบการโพสต์การตรวจสอบการติดตั้งซิลิกอน เมื่อตรวจสอบการล้มเหลวของระบบข้อมูลที่บันทึกไว้จะถูกสแกนออกมาและการวิเคราะห์แบบออฟไลน์สำหรับการแปลข้อผิดพลาด พิเศษด้วยตนเองสอดคล้องตามเทคนิคการวิเคราะห์โปรแกรมร่วมกับการทดสอบโปรแกรมไบนารีของการประยุกต์ใช้ดำเนินการระหว่างการตรวจสอบการโพสต์ซิลิกอนที่ใช้สำหรับวัตถุประสงค์นี้ ผลประโยชน์ที่สำคัญของการใช้ IFRA มากกว่าเทคนิคแบบดั้งเดิมสำหรับการแปลข้อผิดพลาดโพสต์จะถูกซิลิกอน (1) ก็ไม่จำเป็นต้องทำสำเนาระดับระบบที่เต็มไปด้วยข้อบกพร่องและ (2) มันไม่จำเป็นต้องจำลองระดับระบบเต็มรูปแบบ ดังนั้นจึงสามารถเอาชนะอุปสรรคที่สำคัญที่ จำกัด การขยายขีดความสามารถของวิธีการตรวจสอบการโพสต์ซิลิกอนแบบดั้งเดิม ผลการจำลองบนหน่วยประมวลผลที่ซับซ้อน superscalar แสดงให้เห็นว่า IFRA มีประสิทธิภาพในการได้อย่างถูกต้องข้อบกพร่อง localizing ไฟฟ้าที่มีผลกระทบในพื้นที่ชิประดับ 1%

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ifra , ตัวย่อสำหรับการวิเคราะห์การบันทึกรอยเท้าและเอาชนะความท้าทายที่เกี่ยวข้องกับขั้นตอนราคาแพงมากในการโพสต์ซิลิคอนและโปรเซสเซอร์ --- pinpointing ตำแหน่งข้อผิดพลาดและการลำดับที่ exposes ข้อบกพร่องจากความล้มเหลวของระบบ เช่น รถชน บันทึกบนพิเศษแทรกในการประมวลผลในระหว่างการออกแบบรวบรวมข้อมูลเกี่ยวกับการไหลของรอยเท้า --- พิเศษคําแนะนําและสิ่งที่คำสั่งทำ ตามที่พวกเขาผ่านบล็อก microarchitectural ต่างๆของหน่วยประมวลผล บันทึกเสร็จพร้อมกันในระหว่างการดำเนินงานปกติของหน่วยประมวลผลในการโพสต์ซิลิคอนระบบตรวจสอบการติดตั้ง เมื่อการตรวจสอบของระบบล้มเหลวบันทึกข้อมูลสแกนและวิเคราะห์ครับ บั๊ก จำกัด . ความพิเศษของเทคนิคการวิเคราะห์ด้วยตนเองตามโปรแกรม พร้อมทดสอบโปรแกรมไบนารีของโปรแกรมดำเนินการในระหว่างการตรวจสอบไปรษณีย์ซิลิคอน , มีการใช้เพื่อวัตถุประสงค์นี้ประโยชน์หลักของการใช้ ifra มากกว่าเทคนิคแบบดั้งเดิมสำหรับการโพสต์ซิลิคอนแมลงจำกัด ( 1 ) ไม่ต้องมีการสืบพันธุ์ระดับระบบที่เต็มไปด้วยแมลง และ ( 2 ) ไม่ต้องใช้ระดับระบบจำลองเต็มรูปแบบ ดังนั้นจึงสามารถเอาชนะอุปสรรคหลักที่กำหนด ( ตรวจสอบไปรษณีย์ซิลิคอนแบบดั้งเดิมวิธีการผลการทดสอบในหน่วยประมวลผลกลางซูเปอร์สเกลาร์ซับซ้อนแสดงให้เห็นว่า ifra มีประสิทธิภาพถูกต้องจำกัดแมลงไฟฟ้าที่มีผลกระทบต่อระดับชิป เขต 1 %