Scanning electron microscopedepicti

Scanning electron microscope
depictions were recorded on a JEOL-SEM analyser (model-JSM-
5610LV). TEM pictures were taken using JEOL (JAPAN) TEM analyser
(model-JEM 100CX II)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนการแสดงถูกบันทึกไว้ใน analyser JEOL SEM (รุ่น - JSM-5610LV) ถ่ายรูปภาพยการใช้ analyser ยการ JEOL (ญี่ปุ่น)(รุ่น JEM 100CX II)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์
ที่เด่นชัดที่ถูกบันทึกไว้ในการวิเคราะห์ JEOL-SEM (แบบ JSM-
5610LV) ภาพ TEM ถูกนำมาใช้ JEOL (JAPAN) วิเคราะห์ TEM
(แบบ JEM 100CX II)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน
วิถีที่ถูกบันทึกไว้ใน jeol-sem Analyser ( รุ่น JSM -
5610lv ) ภาพเต็มถ่ายใช้จอล ( ญี่ปุ่น ) แบบวิเคราะห์
( แบบเจม 100cx II )