Chemical analysis of the level of s

Chemical analysis of the level of silicon in the two alloys
was carried out to examine the possible variation of silicon
concentration, especially at different distances to graphite
particles. It was found, however, that in alloy 1 there is significant
heterogeneity in the distribution of the element, but
not as a function of the local distance to graphite particles
(Fig. 4). In this figure, the numbers give the silicon concentration,
in wt%, at the location indicated by the accompanying
crosses (
). The micro-inhomogeneity is present in a
form of fields. The silicon content within one field is about
the same. However, the average silicon amount of different
fields may vary significantly. Such heterogeneous distribution
is expected to be present in alloy 2, although the three
limited areas analysed did not show significant variation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เคมีวิเคราะห์ระดับของซิลิคอนในโลหะผสมสองได้ดำเนินการตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงที่เป็นไปได้ของซิลิคอนความเข้มข้น โดยเฉพาะอย่างยิ่งในระยะทางที่แตกต่างกันไปก้านอนุภาค พบ อย่างไรก็ตาม ในโลหะผสม 1 มีสำคัญในการกระจายขององค์ประกอบ heterogeneity แต่ไม่เป็นฟังก์ชันของระยะทางท้องถิ่นให้อนุภาคแกรไฟต์(Fig. 4) ในรูปนี้ หมายเลขให้ความเข้มข้นของซิลิคอนwt % ที่ระบุมาพร้อมกับการข้าม() ไมโคร-inhomogeneity อยู่ในตัวรูปแบบของเขตข้อมูล เนื้อหาซิลิคอนภายในเขตหนึ่งเป็นเรื่องเกี่ยวกับเหมือนเดิม อย่างไรก็ตาม ซิลิคอนเฉลี่ยจำนวนแตกต่างกันเขตข้อมูลอาจแตกต่างกันอย่างมีนัยสำคัญ การกระจายบริการดังกล่าวคาดว่าจะอยู่ในโลหะผสม 2 แม้ว่าทั้งสามพื้นที่จำกัด analysed ไม่แสดงการเปลี่ยนแปลงอย่างมีนัยสำคัญ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์ทางเคมีของระดับของซิลิกอนในสองผสม
ได้ดำเนินการในการตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงเป็นไปได้ของซิลิกอน
เข้มข้นโดยเฉพาะอย่างยิ่งในระยะที่แตกต่างกันเพื่อกราไฟท์
อนุภาค มันก็พบ แต่ที่ในโลหะผสม 1 มีนัยสำคัญ
ในการกระจายความหลากหลายขององค์ประกอบ แต่
ไม่ได้เป็นหน้าที่ของทางไกลในประเทศเพื่ออนุภาคกราไฟท์
(รูปที่. 4) ในรูปนี้ตัวเลขให้ความเข้มข้นของซิลิกอน,
% โดยน้ำหนักในที่สถานที่ที่ระบุไว้โดยประกอบ
กากบาท (?) ไมโคร inhomogeneity มีอยู่ใน
รูปแบบของสาขา เนื้อหาซิลิกอนภายในเขตข้อมูลหนึ่งเป็นเรื่องเกี่ยวกับ
เดียวกัน อย่างไรก็ตามจำนวนเฉลี่ยของซิลิกอนที่แตกต่างกัน
สาขาที่อาจแตกต่างกันอย่างมีนัยสำคัญ การจัดจำหน่ายที่แตกต่างกันดังกล่าว
คาดว่าจะอยู่ในโลหะผสม 2 แม้ว่าสาม
พื้นที่ จำกัด วิเคราะห์ไม่ได้แสดงการเปลี่ยนแปลงอย่างมีนัยสำคัญ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์ทางเคมีของระดับของซิลิกอนสองโลหะผสม
มีวัตถุประสงค์เพื่อศึกษาการเปลี่ยนแปลงที่เป็นไปได้ของซิลิคอน
ความเข้มข้นโดยเฉพาะอย่างยิ่งที่ระยะทางที่แตกต่างกันอนุภาคแกรไฟต์

พบ อย่างไรก็ตาม ในโลหะผสม 1 มีความสามารถในการกระจายของ

ไม่มีธาตุ แต่เป็นฟังก์ชันของระยะทางภายในอนุภาคแกรไฟต์
( รูปที่ 4 ) ในรูปนี้ตัวเลขให้ซิลิคอนสมาธิ
ในเปอร์เซ็นต์ที่พบ โดย สถานที่ประกอบ
ข้าม (
) ความไม่สม่ําเสมอ micro มีอยู่ใน
รูปแบบของเขตข้อมูล ปริมาณซิลิคอนภายในเขตข้อมูลหนึ่งเป็นเกี่ยวกับ
เหมือนกัน อย่างไรก็ตาม มีซิลิโคน จำนวนสาขาที่แตกต่างกัน
อาจแตกต่างกันอย่างมาก เช่นข้อมูลการกระจาย
คาดว่าจะอยู่ในโลหะผสม 2 ถึงแม้ว่า 3
จำกัดพื้นที่วิเคราะห์ไม่ได้แสดงการเปลี่ยนแปลงที่สำคัญ