Atomic-force microscopy (AFM) was c

Atomic-force microscopy (AFM) was carried out using an Autoprobe CP Research instrument (Veeco Instruments, Oyster Bay, NY). The resulting data were transformed into a 3D image. The mean surface roughness (Sa) and mean square roughness (Sq) of the films were calculated by the following equations:

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ที่ถูกดำเนินการโดยใช้เครื่องมือวิจัย CP Autoprobe (เครื่องมือ Veeco หอยนางรมอ่าว NY) ข้อมูลผลลัพธ์ได้กลายเป็นภาพ 3D หมายถึงพื้นผิวที่ขรุขระ (Sa) และความหยาบหมายถึงสแควร์ (Sq) ของภาพยนตร์ถูกคำนวณ โดยสมการต่อไปนี้:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อะตอมแรงกล้องจุลทรรศน์ (AFM) คือการดำเนินการโดยใช้เครื่องมือ Autoprobe CP วิจัย (วีโก้เครื่องดนตรี, Oyster Bay, NY) จากข้อมูลผลการถูกเปลี่ยนเป็นภาพ 3 มิติ พื้นผิวที่ขรุขระเฉลี่ย (SA) และค่าเฉลี่ยตารางความหยาบกร้าน ( ตร.ม. ) ของภาพยนตร์จะถูกคำนวณโดยสมการต่อไปนี้:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) คือการใช้เครื่องมือ autoprobe CP ( VEECO INSTRUMENTS , หอยนางรมเบย์นิวยอร์ก ) ผลข้อมูลที่แปลงเป็นภาพ 3 มิติ ค่าเฉลี่ยความหยาบผิว ( SA ) และหมายถึงตารางความหยาบ ( SQ ) ของฟิล์มที่คำนวณได้จากสมการต่อไปนี้