SEM imaging of pellets was performe

SEM imaging of pellets was performed with a Leo 1550 FEG microscope (Zeiss, UK) equipped with an in-lens detector. A thin gold/palladium layer (∼20 nm) was sputtered onto the non-conductingsamples prior to analysis to avoid charging of the samples.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการเกี่ยวกับ SEM เม็ด ด้วยกล้องจุลทรรศน์ FEG 1550 ลีโอ (Zeiss, UK) พร้อมกับการตรวจจับในเลนส์ ชั้นบางทอง/พาลาเดียม (∼20 nm) ถูก sputtered ลงไม่ใช่ conductingsamples ก่อนเพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จตัวอย่างวิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การถ่ายภาพ SEM เม็ดได้ดำเนินการกับลีโอ 1550 FEG กล้องจุลทรรศน์ (Zeiss, สหราชอาณาจักร) พร้อมกับเครื่องตรวจจับเลนส์ ชั้นบางทอง / แพลเลเดียม (~20 นาโนเมตร) คือการพ่นลงบนไม่ใช่ conductingsamples-ก่อนที่จะมีการวิเคราะห์เพื่อหลีกเลี่ยงการเรียกเก็บเงินของกลุ่มตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพ SEM ของเพลแสดงกับลีโอ 1550 FEG กล้องจุลทรรศน์ , UK ) อุปกรณ์ที่มีในเครื่องตรวจจับเลนส์ ชั้นทอง / แพลเลเดียมบาง ( ∼ 20 nm ) คือ sputtered ลงไม่ conductingsamples ก่อนการวิเคราะห์เพื่อหลีกเลี่ยงการเรียกเก็บเงินของตัวอย่าง