The major activity in the 1970s was

The major activity in the 1970s was the development of signal
processing techniques to make good measurements with different
excitation methods. The secondary effort was the development of
parameter estimation methods that could be used to extract characteristic functions (modal parameters and impedance functions)
that could be used to characterize the systems being tested. Some
of the important developments related to transient testing in the
1970s are summarized here:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กิจกรรมหลักในปี 1970 คือการพัฒนาของสัญญาณ
เทคนิคการประมวลผลเพื่อให้การวัดที่ดีกับที่แตกต่างกัน
วิธีการกระตุ้น ความพยายามที่สองคือการพัฒนา
วิธีการประมาณค่าพารามิเตอร์ที่สามารถนำมาใช้ในการสกัดลักษณะฟังก์ชั่น (พารามิเตอร์คำกริยาและฟังก์ชั่นความต้านทาน)
ที่สามารถนำมาใช้ในการอธิบายลักษณะของระบบที่ถูกทดสอบ บางส่วน
ของการพัฒนาที่สำคัญที่เกี่ยวข้องกับการทดสอบชั่วคราวใน
ปี 1970 มีรายละเอียดที่นี่:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กิจกรรมที่สำคัญในยุคนั้นคือการพัฒนาเทคนิคการประมวลผลสัญญาณ
ทําการวัดที่ดีกับวิธีการกระตุ้นต่างๆ

ความพยายามที่สองคือการพัฒนา
วิธีการประมาณค่าพารามิเตอร์ที่สามารถใช้ในการแยกฟังก์ชันลักษณะเฉพาะ ( พารามิเตอร์รูปแบบและฟังก์ชันค่า )
ที่อาจจะใช้ในลักษณะของระบบที่ถูกทดสอบ บาง
สําคัญของการพัฒนาที่เกี่ยวข้องกับการทดสอบชั่วคราวใน
1970 สรุปที่นี่ :