2.8.4. Microscopic examinationThe s

2.8.4. Microscopic examination
The surface and cross-section microstructures of both uncoated and coated peppers and apples were examined under a scanning electron microscope (SEM) (Quanta 200, type FEI, Jeol Ltd., Japan). Observations and micrographs were performed in Low Vacuum mode (LV mode) using an LFD detector, at an accelerating voltage of 30 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.8.4. กล้องจุลทรรศน์ตรวจMicrostructures ผิวและระหว่างส่วนของพริกที่เคลือบ และไม่เคลือบและแอปเปิ้ลได้ตรวจสอบภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM) (Quanta 200 พิมพ์เฟย Jeol Ltd. ญี่ปุ่น) สังเกตและ micrographs ได้ดำเนินการในโหมดดูดต่ำ (LV โหมด) โดยใช้เครื่องตรวจจับการ LFD ที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 30 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.8.4 การตรวจด้วยกล้องจุลทรรศน์พื้นผิวและจุลภาคตัดทั้งพริกเคลือบผิวและเคลือบและแอปเปิ้ลได้รับการตรวจสอบภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (ควอนตั้ม 200 ชนิด FEI, Jeol จำกัด ญี่ปุ่น)
การสังเกตและไมโครได้ดำเนินการในโหมดสูญญากาศต่ำ (โหมด LV) โดยใช้เครื่องตรวจจับ LFD ที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง 30 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.8.4 . กล้องจุลทรรศน์
พื้นผิวและลักษณะโครงสร้างจุลภาคของทั้งสองไม่เคลือบผิวและเคลือบผิวพริกหยวกและแอปเปิ้ลกำลังตรวจสอบภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( Quanta 200 ประเภท Fei จอล ( ญี่ปุ่น ) การสังเกตและ micrographs แสดงในโหมดสูญญากาศต่ำ ( โหมด LV ) โดยใช้เครื่องเร่ง lfd ที่แรงดัน 30 kV .