Effect of ZnO ratio on the phase fo

Effect of ZnO ratio on the phase formation, the microstructure and microwave dielectric properties of BaO–ZnO–TiO2 ceramics with compositions varying from 1:0.5:3 to 1:0.8:3 (BaO:ZnO:TiO2) were investigated. XRD patterns show that The bulk densities of the sintered samples were measured by the Archimedes method. The phase compositions were identified by X-ray diffraction (XRD) using Cu Kα radiation (DX-1000 CSC). Microstructure observation was conducted by using scanning electron microscopy (SEM, FEI Inspect F). The dielectric characteristics at microwave frequencies (4.726–4.953 GHz) were measured by the Hakki–Coleman dielectric resonator method in the TE011 mode using a network analyzer(HP83752A) [14]. The sintered samples used for this measurement had the ratio: diameter:height = 1.9–2.3. The τf values were determined from the difference between the resonant frequencies obtained at 25 °C and 80 °C.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผลของอัตราส่วน ZnO ในระยะก่อตัว โครงสร้างจุลภาค และไมโครเวฟเป็นฉนวนคุณสมบัติของเซรามิกส์ ZnO – บ่าว – TiO2 มีองค์ประกอบที่แตกต่างจากอัตรา 5:3 8:3 (BaO:ZnO:TiO2) อัตราการถูกตรวจสอบ รูปแบบการ XRD แสดงว่า ความหนาแน่นเป็นกลุ่มตัวอย่างที่เผาที่วัด โดยวิธีคิ องค์ประกอบขั้นตอนระบุไว้ โดยการเลี้ยวเบน X-ray (XRD) ใช้รังสี Cu Kα (CSC DX 1000) ตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคดำเนินการ โดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM เฟยตรวจสอบ F) ลักษณะเป็นฉนวนที่ความถี่ไมโครเวฟ (4.726 – 4.953 GHz) ถูกวัด โดยวิธีอิเล็กทริก resonator Hakki – Coleman ในโหมด TE011 ที่ใช้ในเครือข่าย analyzer(HP83752A) [14] ตัวอย่างเผาที่ใช้สำหรับการวัดนี้มีอัตราส่วน: เส้นผ่านศูนย์กลาง: ความสูง = 1.9-2.3 กำหนดค่า τf จากความแตกต่างระหว่างความถี่เรโซแนนซ์ที่ 25 ° C ถึง 80 ° c

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผลของอัตราส่วน ZnO เกี่ยวกับการก่อเฟสจุลภาคและไมโครเวฟคุณสมบัติเป็นฉนวนของเซรามิกเปา ZnO-TiO2 มีองค์ประกอบที่แตกต่างจากที่ 1: 0.5: 3-1: 0.8: 3 (แบเรียมออกไซด์: ZnO: TiO2) ได้รับการตรวจสอบ รูปแบบ XRD แสดงให้เห็นว่ามีความหนาแน่นเป็นกลุ่มของสารตัวอย่างถูกวัดโดยวิธี Archimedes องค์ประกอบขั้นตอนที่ถูกระบุโดย X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) โดยใช้รังสี Cu Kα (DX-1000 CSC) สังเกตจุลภาคได้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM เฟตรวจสอบ F) ลักษณะอิเล็กทริกที่ความถี่ไมโครเวฟ (4.726-4.953 GHz) ถูกวัดโดย Hakki-โคลแมนวิธีอิเล็กทริกไอเสียในโหมด TE011 โดยใช้การวิเคราะห์เครือข่าย (HP83752A) [14] กลุ่มตัวอย่างที่ใช้ในการเผาวัดนี้มีอัตราส่วน: เส้นผ่านศูนย์กลาง: height = 1.9-2.3 ค่าτfได้รับการพิจารณาจากความแตกต่างระหว่างความถี่ได้ที่ 25 องศาเซลเซียสและ 80 องศาเซลเซียส