Scanning electron microscope (SEM)-

Scanning electron microscope (SEM)-- produces images of a sample by scanning with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that can be detected and that contain information about the sample's surface topography and composition.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM) - สร้างภาพตัวอย่าง โดยการสแกนด้วยแสงโฟกัสของอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนที่โต้ตอบกับอะตอมในตัวอย่าง การผลิตสัญญาณต่าง ๆ ที่สามารถตรวจพบ และที่ประกอบด้วยข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างพื้นผิวภูมิประเทศและองค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) - การสร้างภาพของกลุ่มตัวอย่างโดยการสแกนด้วยลำแสงที่เน้นของอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนมีปฏิสัมพันธ์กับอะตอมในตัวอย่างการผลิตสัญญาณต่างๆที่สามารถตรวจพบและที่มีข้อมูลเกี่ยวกับพื้นผิวภูมิประเทศตัวอย่างและองค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) -- สร้างรูปตัวอย่างโดยการสแกนกับโฟกัสลำแสงอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมที่ใช้ในการผลิตสัญญาณต่าง ๆ ที่สามารถตรวจพบ และมีข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างพื้นผิวภูมิประเทศและองค์ประกอบ .