Abstract A comparative study of Kel

Abstract
A comparative study of Kelvin Probe (KP) surface work function analysis of p-type CuO thin films to its nanowires is presented. Thin films were prepared by RF magnetron sputtering and nanowires were grown by thermal oxidation of grown thin films. The structural characterization was carried out by SEM and micro-Raman spectrophotometry. Finally, Surface work function variations of both materials were recorded while exposing them to some oxidizing and reducing gases, looking for a comparison between their gas sensing performances. The collected results were analyzed and compared to improve our understanding about sensing mechanisms involved in these kinds of p-type materials.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทคัดย่อ การนำเสนอการศึกษาเปรียบเทียบการวิเคราะห์ฟังก์ชันการทำงานผิวเคลวินโพรบ (KP) ของฟิล์มบาง CuO ชนิด p การของ nanowires ฟิล์มบางที่เตรียม โดยพ่น magnetron RF และ nanowires ได้เติบโตขึ้น โดยการเกิดออกซิเดชันที่ความร้อนของฟิล์มบางที่ปลูก จำแนกโครงสร้างถูกดำเนิน โดย SEM และ spectrophotometry ไมโครรามัน สุดท้าย รูปแบบฟังก์ชันการทำงานพื้นผิวของวัสดุทั้งสองถูกบันทึกในขณะที่เปิดเผยนั้นจะรับอิเล็กตรอนบาง และลดก๊าซ ค้นหาการเปรียบเทียบระหว่างก๊าซของพวกเขาแสดงการตรวจวัด ผลการเก็บรวบรวมได้วิเคราะห์ และเปรียบเทียบความเข้าใจของเราเกี่ยวกับการตรวจกลไกเกี่ยวข้องกับ p ชนิดวัสดุต่าง ๆ เหล่านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บทคัดย่อการศึกษาเปรียบเทียบ Probe เคลวิน (KP) การวิเคราะห์ฟังก์ชั่นการทำงานที่พื้นผิวของชนิดพีออกไซด์ฟิล์มบางที่จะ nanowires ที่จะนำเสนอ
ฟิล์มบางที่ถูกจัดทำขึ้นโดยสปัตเตอร์ RF magnetron และ nanowires ปลูกโดยการเกิดออกซิเดชันความร้อนของที่ปลูกฟิล์มบาง ลักษณะโครงสร้างได้ดำเนินการโดย SEM และไมโครรามัน spectrophotometry สุดท้ายรูปแบบฟังก์ชั่นการทำงานที่พื้นผิวของวัสดุทั้งสองที่ถูกบันทึกไว้ในขณะที่เปิดเผยให้บางส่วนออกซิไดซ์และลดการปล่อยก๊าซที่กำลังมองหาการเปรียบเทียบระหว่างการแสดงการตรวจวัดก๊าซของพวกเขา ผลการเก็บรวบรวมวิเคราะห์และเปรียบเทียบเพื่อปรับปรุงความเข้าใจของเราเกี่ยวกับกลไกการมีส่วนร่วมในการตรวจจับเหล่านี้ชนิดของวัสดุชนิดพี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นามธรรม
เปรียบเทียบเคลวินโพรบ ( KP ) พื้นผิวการทำงานฟังก์ชันการวิเคราะห์ของพี 2 ( ฟิล์มบางของนาโนที่ถูกนำเสนอ ฟิล์มถูกเตรียมด้วย RF ตรอนสปัตเตอริง และนาโนเติบโตโดยปฏิกิริยาทางความร้อนของการปลูกฟิล์มบาง มีลักษณะโครงสร้าง ทำโดยวิธี SEM และไมโครรามัน . ในที่สุดพื้นผิวการทำงานฟังก์ชันการเปลี่ยนแปลงของวัสดุทั้งสองที่ถูกบันทึกไว้ในขณะที่เปิดเผยพวกเขาบางออกซิไดซ์และลดก๊าซ มองหาการเปรียบเทียบสมรรถนะของก๊าซตรวจจับ . เก็บผลวิเคราะห์เปรียบเทียบเพื่อปรับปรุงความเข้าใจเกี่ยวกับกลไกในการมีส่วนร่วมใน ชนิดเหล่านี้ของวัสดุพีตรวจจับ .