In addition, atomic force microscop

In addition, atomic force microscopy (AFM, Veeco/TM CP-RIISPM), and scanning thermal microscopy (SThM, Topo Metrix)
were used to study the surface topography and thermal properties.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นอกจากนี้ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM, Veeco/TM CP-RIISPM), และกล้องจุลทรรศน์ความร้อนแกน (SThM ภูมิประเทศ Metrix)ใช้ในการศึกษาพื้นผิวภูมิประเทศและคุณสมบัติทางความร้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นอกจากนี้การใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM, วีโก้ / TM CP-RIISPM) และกล้องจุลทรรศน์ความร้อน (SThM, โทโป Metrix)
ถูกนำมาใช้เพื่อการศึกษาพื้นผิวภูมิประเทศและสมบัติทางความร้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นอกจากนี้ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM , VEECO / TM cp-riispm ) และการใช้ความร้อน sthm Topo , metrix )ถูกใช้เพื่อศึกษาภูมิประเทศของพื้นผิวและสมบัติทางความร้อน