2.3.3. Dielectric property measurem

2.3.3. Dielectric property measurements
The dielectric properties of samples were measured at 25 °C and
2450 MHz by using a network analyzer (Model: E5071C; Agilent Inc.,CA, USA) and the open-ended coaxial probe method (HP 85070B
dielectric probe kit). A schematic diagram of the equipment used to
perform measurements is shown in Fig. 2. The measurement system
consisted of a network analyzer, a coaxial probe, and an external
computer with specific software installed. The open-ended coaxial
probe was a cut-off section of a transmission line. The diameter of the
probe was 20 mm. The material was measured by touching the probe
to the flat face of the A. bisporus slices.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3.3 การวัดคุณสมบัติของฉนวน
คุณสมบัติเป็นฉนวนของกลุ่มตัวอย่างถูกวัดที่ 25 ° C และ
2450 MHz โดยใช้การวิเคราะห์เครือข่าย (Model: E5071C; Agilent อิงค์ CA, USA) และปลายเปิดวิธีการสอบสวนโคแอกเชียล (HP 85070B
ชุดอิเล็กทริกสอบสวน) . แผนภาพวงจรของอุปกรณ์ที่ใช้ในการ
ดำเนินการการวัดแสดงในรูป 2. ระบบการวัด
ประกอบด้วยการวิเคราะห์เครือข่ายการสอบสวนคู่และภายนอก
เครื่องคอมพิวเตอร์ที่มีการติดตั้งซอฟแวร์ที่เฉพาะเจาะจง เปิดสิ้นสุดวันที่คู่สาย
สอบสวนเป็นส่วนตัดของสายส่ง เส้นผ่าศูนย์กลางของ
หัววัดเป็น 20 มิลลิเมตร วัสดุที่ถูกวัดโดยการสัมผัสการสอบสวน
ไปที่ใบหน้าแบนของชิ้น A. bisporus

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3.3 . การวัดสมบัติไดอิเล็กตริกสมบัติไดอิเล็กทริกของจำนวนวัดที่ 25 ° C และ2450 MHz โดยใช้วิเคราะห์เครือข่าย ( Model : e5071c ; เลนต์ อิงค์ , CA , USA ) และแบบโคแอ็กเซียลวิธี ( HP 85070b โพรบการสอบสวนชุด ) แผนภาพวงจรของอุปกรณ์ที่ใช้การวัดแสดงในรูปที่ 2 ระบบการวัดเป็นเครือข่ายวิเคราะห์ ตรวจสอบคู่สาย และภายนอกคอมพิวเตอร์เฉพาะซอฟต์แวร์ที่ติดตั้ง ส่วนแบบโคแอ็กเซียลสอบสวน คือ ตัดส่วนของสายส่ง ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลางของโพรบเป็น 20 มิลลิเมตร วัสดุที่ได้สัมผัสโพรบไปหน้าแบน ของ อ. bisporus ชิ้น