Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning Electron Microscope (SEM) model FEI Quanta 400 with 500x and 2000x magnification were used for
fiber membrane morphology information. Studies performed in high vacuum mode and at a voltage of 20 kV.
Samples coated with a thin layer of gold using the SC 500 sputter coater model in vacuum surrounding around 0.1 -
0.5 torr in the presence of an inert gas (Argon). SEM observations were conducted on samples of the fiber
membrane

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) รุ่นเฟย Quanta 400 500 x และขยาย x 2000 ใช้สำหรับการข้อมูลสัณฐานวิทยาใยเยื่อ การศึกษาดำเนินการ ในโหมดสุญญากาศสูง และแรงดัน 20 kVตัวอย่างเคลือบ ด้วยชั้นบาง ๆ ของทองใช้ SC 500 sputter coater รุ่นในสุญญากาศรอบ 0.1 -ธอร์ 0.5 ในก๊าซเฉื่อย (อาร์กอน) สังเกต SEM ถูกดำเนินการตัวอย่างของเส้นใยเมมเบรน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) รุ่นเฟควอนตั้ม 400 กับ 500x 2000x และขยายที่ใช้
ข้อมูลทางสัณฐานวิทยาใยเยื่อ การศึกษาดำเนินการในโหมดสูญญากาศสูงและแรงดันไฟฟ้า 20 กิโลโวลต์ได้.
ตัวอย่างเคลือบด้วยชั้นบาง ๆ ของทองโดยใช้รูปแบบ SC 500 ปะทุ Coater ในสูญญากาศโดยรอบ 0.1 -
0.5 Torr ในการปรากฏตัวของก๊าซเฉื่อย (อาร์กอน) สังเกต SEM ได้ดำเนินการกับตัวอย่างของเส้นใย
เมมเบรน