and supported on the copper mesh an

and supported on the copper mesh and Si chip for the TEM and DFM tests respectively.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และได้รับการสนับสนุนบนตาข่ายทองแดงและชิพซีทดสอบยการและ DFM ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และได้รับการสนับสนุนบนตาข่ายทองแดงและชิปศรีสำหรับการทดสอบ TEM และ DFM ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และได้รับการสนับสนุนบนทองแดงตาข่ายและซิลิกอนชิปสำหรับ TEM และ DFM การทดสอบตามลำดับ