described at some length in prior p

described at some length in prior publications [55,56].
These data were collected on a 50 × 50 nm2 area, i.e.,
each pixel corresponds to 1 × 1 Å2; the lattice constant
of the material is 3.8 Å. The Z position of the piezo was
recorded on a separate channel prior to the Z-feedback
disengage at the beginning of each bias waveform sequence,
resulting in a 150 × 150 pixel topographic map.
The Z channel spectroscopy image and the average
spectroscopy signal are shown in Figure 2a, and the
inset in the top right corner is the average currentvoltage
(IV) curve for the entire image. Approximate
acquisition time for the CITS map was 8 to 10 h which
resulted in some drift, apparent in the bottom portion
of Figure 2a.
The spatial variability of the electronic behavior across
the surface was analyzed using PCA [35-37,39,57]. PCA
eigenvector and loading map pairs for components 2
and 3 are shown in Figure 2b,c for the FeTe0.55Se0.45
CITS data set. It is useful to analyze the eigenvectors
and loadings simultaneously to examine the changes in
the signal first (the eigenvector here) and its spatial
distribution next (the loading). From a statistical perspective,
we are mapping sources of electronic inhomogeneity
arising from the negative portion of the IV curve in both
components, as illustrated in Figure 2b,c. The second
eigenvector shown in Figure 2b (upper right corner inset)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อธิบายบางยาวในสิ่งพิมพ์ก่อน [55,56]ข้อมูลเหล่านี้ถูกจัดเก็บบนพื้นที่ nm2 50 × 50,,แต่ละพิกเซลตรงกับ 1 × 1 Å2 คงตาข่ายวัสดุเป็น 3.8 Å ตำแหน่ง Z ของ piezo ถูกบันทึกสถานีแยกก่อน Z-ติชมไล่ที่จุดเริ่มต้นของแต่ละรูปคลื่น bias ลำดับเกิดในแผนที่ topographic พิกเซล 150 × 150รูปมิกช่อง Z และค่าเฉลี่ยมิกสัญญาณแสดงในรูปที่ 2a และแทรกภาพไปทางมุมบนขวาเป็น currentvoltage เฉลี่ย(IV) โค้งสำหรับภาพทั้งหมด ประมาณเวลาซื้อแผนที่ CITS ถูก h 8-10 ซึ่งส่งผลให้บางลอย ในส่วนล่างของรูปที่ 2aความแปรปรวนเชิงพื้นที่ของการทำงานอิเล็กทรอนิกส์ผ่านพื้นผิวถูกวิเคราะห์โดยใช้ PCA [35-37,39,57] PCAeigenvector และโหลดแผนที่คู่สำหรับคอมโพเนนต์ 2และ 3 แสดงในรูปที่ 2b, c สำหรับการ FeTe0.55Se0.45ตั้งค่าข้อมูล CITS ใช้การวิเคราะห์แบบเวกเตอร์ลักษณะเฉพาะและการรับน้ำหนักพร้อมกันเพื่อตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงในสัญญาณแรก (eigenvector นี่) และของปริภูมิการแจกจ่ายต่อไป (โหลด) จากการมองทางสถิติเรามีการแมปแหล่งอิเล็กทรอนิกส์ inhomogeneityเกิดจากส่วนลบโค้ง IV ทั้งในส่วนประกอบ ดังที่แสดงในรูปที่ 2b, c ครั้งที่สองแสดงในรูปที่ 2b eigenvector (แทรกภาพไปทางมุมบนขวา)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

. อธิบายที่มีความยาวบางส่วนในสิ่งพิมพ์ก่อน [55,56]
ข้อมูลเหล่านี้ได้ถูกรวบรวมไว้ใน 50 × 50 พื้นที่ nm2 คือ
แต่ละพิกเซลสอดคล้องกับ 1 × 1 A2; คงตาข่าย
ของวัสดุที่เป็น 3.8 ซีตำแหน่งของ Piezo ที่ถูก
บันทึกไว้ในช่องที่แยกจากกันก่อนที่จะ Z-ข้อเสนอแนะ
ปลดที่จุดเริ่มต้นของแต่ละลำดับอคติรูปแบบของคลื่นที่
เกิดในแผนที่ภูมิประเทศ 150 × 150 พิกเซล.
ภาพสเปคโทร Z ช่องทางและค่าเฉลี่ย
สัญญาณสเปกโทรสโกจะแสดง ในรูปที่ 2a และ
สิ่งที่ใส่เข้าไปในมุมขวาด้านบนเป็น currentvoltage เฉลี่ย
(iv) โค้งสำหรับภาพทั้งหมด ประมาณ
เวลาการเข้าซื้อกิจการแผนที่ CITS เป็น 8 ถึง 10 ชั่วโมงซึ่ง
มีผลในการดริฟท์บางส่วนที่เห็นได้ชัดในส่วนล่าง
ของรูปที่ 2a.
แปรปรวนเชิงพื้นที่ของพฤติกรรมอิเล็กทรอนิกส์ทั่ว
พื้นผิวที่ได้รับการวิเคราะห์โดยใช้ PCA [35-37,39,57] . PCA
วิคเตอร์และแผนที่โหลดคู่สำหรับส่วนประกอบที่ 2
และ 3 จะแสดงในรูปที่ 2b, C สำหรับ FeTe0.55Se0.45
ชุดข้อมูล CITS มันจะมีประโยชน์ในการวิเคราะห์ eigenvectors
และแรงพร้อมกันเพื่อตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงใน
สัญญาณแรก (วิคเตอร์ได้ที่นี่) และอวกาศ
กระจายถัดไป (โหลด) จากมุมมองทางสถิติ
ที่เรากำลังทำแผนที่แหล่งที่มาของ inhomogeneity อิเล็กทรอนิกส์
ที่เกิดขึ้นจากส่วนที่เป็นลบของเส้นโค้ง IV ทั้งใน
ส่วนประกอบดังแสดงในรูปที่ 2b, C ที่สอง
วิคเตอร์แสดงในรูปที่ 2b (มุมบนภาพประกอบขวา)