2.5. Scanning electron microscope (

2.5. Scanning electron microscope (SEM)
The examination of dispersion was carried out using a Scanning Electron Microscope (SEM) model Zeiss Supra- 35VP to obtain information on the surface of the dispersion

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.5. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) การตรวจสอบของการกระจายได้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) แบบ Zeiss Supra-35VP เพื่อขอรับข้อมูลเกี่ยวกับพื้นผิวของการกระจายตัว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.5 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
การตรวจสอบของการกระจายได้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) รุ่น Zeiss Supra- 35VP ที่จะได้รับข้อมูลเกี่ยวกับพื้นผิวของการกระจายตัวที่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.5 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )การตรวจสอบการกระจายข้อมูลโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) รุ่น Zeiss Supra - 35vp เพื่อให้ได้ข้อมูลเกี่ยวกับพื้นผิวของการแพร่กระจาย