XRF (X-ray fluorescence) •XRF analy

XRF (X-ray fluorescence) •XRF analysis เป็นเทคนิคที่สามารถ วิเคราะห์ชนิดของธาตุ (Qualitative) และ ปริมาณธาตุ (Quantitative) • สามารถวิเคราะห์ได้ทั้งของแข็งและ ของเหลว • เป็นการทดสอบแบบไม่ทำลาย • ใช้เวลาวิเคราะห์แต่ละครั้งประมาณ 15 นาที • กรณีของแข็ง : - สามารถวิเคราะห์ได้โดยไม่ต้องมีการ เตรียมผิวมาก่อนก็ได้ - ชิ้นงานต้องมีเส้นผ่าศูนย์กลางประมาณ 10-50 mm และสูงไม่เกิน 50 mm ผิวหน้า ชิ้นงานของแข็งต้องเรียบ และผ่านการขัด เงา • กรณีของเหลว : สามารถวิเคราะห์ธาตุที่มี ความเข้นข้นน้อยๆประมาณ 5-500 ppm ได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

XRF (เอ็กซ์เรย์ fluorescence) •XRF วิเคราะห์เป็นเทคนิคที่สามารถวิเคราะห์ชนิดของธาตุ (คุณภาพ) และปริมาณธาตุ (เชิงปริมาณ) •สามารถวิเคราะห์ได้ทั้งของแข็งและของเหลว•เป็นการทดสอบแบบไม่ทำลาย•ใช้เวลาวิเคราะห์แต่ละครั้งประมาณ 15 นาที•กรณีของแข็ง: -สามารถวิเคราะห์ได้โดยไม่ต้องมีการเตรียมผิวมาก่อนก็ได้ - ชิ้นงานต้องมีเส้นผ่าศูนย์กลางประมาณ 10-50 มม.และสูงไม่เกินมม. 50 ผิวหน้าชิ้นงานของแข็งต้องเรียบและผ่านการขัดเงา•กรณีของเหลว: สามารถวิเคราะห์ธาตุที่มีความเข้นข้นน้อยๆประมาณ 5-500 ppm ได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRF (X-ray fluorescence) •การวิเคราะห์ XRF เป็นเทคนิคที่สามารถวิเคราะห์ชนิดของธาตุ (คุณภาพ) และปริมาณธาตุ (เชิงปริมาณ) •สามารถวิเคราะห์ได้ทั้งของแข็งและของเหลว•เป็นการทดสอบแบบไม่ทำลาย•ใช้เวลาวิเคราะห์แต่ละครั้งประมาณ 15 นาที •กรณีของแข็ง: - สามารถวิเคราะห์ได้โดยไม่ต้องมีการเตรียมผิวมาก่อนก็ได้ - 10-50 มิลลิเมตรและสูงไม่เกิน 50 มมผิวหน้าชิ้นงานของแข็งต้องเรียบและผ่านการขัดเงา•กรณีของเหลว: สามารถวิเคราะห์ธาตุที่มีความเข้นข้นน้อย ๆ ประมาณ 5-500 พีพีเอ็มได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เรืองรังสีเอ็กซ์ ( X-ray fluorescence ) - XRF วิเคราะห์เป็นเทคนิคที่สามารถวิเคราะห์ชนิดของธาตุ ( เชิงคุณภาพ ) และปริมาณธาตุ ( เชิงปริมาณ ) - - - สามารถวิเคราะห์ได้ทั้งของแข็งและของเหลวเป็นการทดสอบแบบไม่ทำลายใช้เวลาวิเคราะห์แต่ละครั้งประมาณ 15 นาที -:- สามารถวิเคราะห์ได้โดยไม่ต้องมีการเตรียมผิวมาก่อนก็ได้ - ชิ้นงานต้องมีเส้นผ่าศูนย์กลางประมาณและสูงไม่เกิน 10-50 มม. 50 มม. ผิวหน้าชิ้นงานของแข็งต้องเรียบและผ่านการขัดเงา - กรณีของเหลว :สามารถวิเคราะห์ธาตุที่มีความเข้นข้นน้อยๆประมาณ 5-500 ppm ได้