X-ray diffraction (XRD) analysis da

X-ray diffraction (XRD) analysis data revealed that synthesized nanosilica was in amorphous form showing a strong broad peak at 22.14o (2).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) เปิดเผยข้อมูล nanosilica ที่สังเคราะห์ได้ในฟอร์มไปที่แสดงความกว้างสูงสุดที่ 22.14o (2)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) การวิเคราะห์ข้อมูลเปิดเผยว่าสังเคราะห์ nanosilica ในรูปแบบอสัณฐานแสดงยอดกว้างแข็งแกร่งที่ 22.14o (2)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) พบว่า ข้อมูลการวิเคราะห์สังเคราะห์นาโนซิลิกาอยู่ในรูปอสัณฐานการแสดงแข็งแรงกว้างสูงสุดที่ 22.14o ( 2  )