The single-crystal X-ray data for 3

The single-crystal X-ray data for 3 and 4
were collected at 123 K using an Agilent Super-Nova dual-wavelength
diffractometer with a microfocus X-ray source and multilayer optics
monochromatized Cu Kα (λ = 1.541 84 Å) radiation. Details of data
collection and analyses are given in the

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อมูล X-ray เดี่ยวคริสตัลสำหรับ 3 และ 4ถูกรวบรวมไว้ที่ 123 K ใช้ dual-คลื่น Agilent ซุปเปอร์โนวาdiffractometer กับ microfocus ซเรย์แหล่งและหลายเลนส์monochromatized Cu Kα (λ = 1.541 84 Å) รังสี รายละเอียดของข้อมูลรวบรวมและวิเคราะห์ได้ในตัว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เดียวคริสตัลข้อมูล X-ray เพื่อที่ 3 และ 4
ถูกเก็บที่ 123 K ใช้ Agilent ซูเปอร์โนวาแบบ dual-ความยาวคลื่น
diffractometer ที่มีแหล่ง microfocus X-ray และเลนส์หลาย
monochromatized Cu Kα (λ = 1.541 84) รังสี รายละเอียดของข้อมูลที่
เก็บรวบรวมและการวิเคราะห์จะได้รับใน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การ single-crystal เอ็กซ์เรย์ 3 และ 4 ข้อมูลจำนวน 123 k ที่ใช้เลนต์ ซูเปอร์โนวาสองความยาวคลื่นแหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซ์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับจุดโฟกัสและเลนส์หลายชั้นmonochromatized Cu K α ( λ = 1.541 84 • ) รังสี รายละเอียดของข้อมูลการเก็บรวบรวมและการวิเคราะห์จะได้รับใน