The X-ray diffraction (XRD) profile

The X-ray diffraction (XRD) profiles of the film specimens were taken using a Philips X’Pert MPD diffractometer (Eindhoven, Netherlands). The specimens were irradiated by Cu Kα (λ = 0.15418 nm) at 40 kV and 30 mA with a symmetric reflection geometry in the range of 2θ = 5–90° with a step of 0.02°.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โพรไฟล์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ตัวอย่างภาพยนตร์ถูกนำใช้เป็น Philips X'Pert MPD diffractometer (ไอนด์โฮเวน เนเธอร์แลนด์) ตัวอย่างถูกฉายรังสี โดย Cu Kα (λ = 0.15418 nm) ที่ 40 kV และ 30 mA กับเรขาคณิตแบบสมมาตรการสะท้อนในช่วง 2θ = 5 – 90° กับขั้นตอนของ 0.02°

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) โปรไฟล์ของตัวอย่างภาพยนตร์เรื่องนี้ถูกนำมาใช้ diffractometer Philips X'Pert MPD (Eindhoven, เนเธอร์แลนด์) ตัวอย่างที่ได้รับการฉายรังสีโดย Cu Kα (λ = 0.15418 นาโนเมตร) ที่ 40 kV และ 30 มิลลิแอมป์ที่มีรูปทรงเรขาคณิตสะท้อนสมมาตรในช่วงของ2θ = 5-90 °กับขั้นตอนของ 0.02 °

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD ) รูปแบบของภาพยนตร์ตัวอย่างถูกใช้ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ MPD ฟิลิปส์ x"pert ( Eindhoven , เนเธอร์แลนด์ ) ทำการฉายรังสี Cu K α ( λ = 0.15418 nm ) ที่ 40 กิโล 30 มาด้วยสมมาตรการสะท้อนเรขาคณิตในช่วง 2 θ = 5 – 90 องศากับขั้นตอนของ 0.02 องศา .